Gebraucht KLA / TENCOR / PROMETRIX Omnimap RS-75 #9115873 zu verkaufen

KLA/TENCOR/PROMETRIX Omnimap RS-75 ist eine leistungsstarke und präzise Wafer-Prüf- und Messtechnik. Es ist ein automatisiertes Messsystem, das eine umfassende Palette von Mess-, Analyse- und Berichtsfunktionen mit hoher Genauigkeit bietet. Es wurde entwickelt, um das Profil, die Oberflächengüte und die dimensionalen Merkmale von Halbleiterscheiben zu messen und zu analysieren und einen detaillierten Inspektionsbericht mit den Ergebnissen bereitzustellen. KLA Omnimap RS-75 ist ideal für Wafer-Lithographie, Wafer-Sondierung, Partikelzählung, Lückenanalyse, Kantenanalyse und Messung kritischer Dimensionen (CD). Es handelt sich um eine integrierte Einheit mit einzelnen Test- und Messtechnik-Elementen, die ein optisches Mikroskop, ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), ein Streuungsmessgerät, einen Tropfengrößenanalysator und einen kinematischen Gesichtsfeldsensor umfasst. Diese Elemente werden in einer effizienten, hochpräzisen Konfiguration kombiniert, mit der einzelne Wafer und Prozessqualität schnell beurteilt werden können. Die hochauflösende Bildgebungsfähigkeit der Maschine ermöglicht eine detaillierte Abbildung der Waferfunktionen. Darüber hinaus verfügt es über ein großes Sichtfeld, das eine umfassendere Prüfung mehrerer Wafer auf einmal ermöglicht. Das SEM ist hochvergrößerbar und kann zur Tiefenanalyse von Merkmalen mit einer Größe von bis zu 10 Nanometern eingesetzt werden. Das Präzisionscatterometer ist in der Lage, kleine Schwankungen der Waferdicke zu erkennen, während der Tropfengrößenanalysator in der Lage ist, minimale Schwankungen der Partikelgröße und -form zu untersuchen. Der kinematische Bildfeldsensor liefert präzise Größenmessungen für den Wafer-zu-Wafer-Vergleich. TENCOR OMNIMAP RS75 umfasst ein umfassendes Datenanalysepaket, das es Anwendern ermöglicht, die während des Test- und Messprozesses gesammelten Daten schnell auszuwerten und zu interpretieren. Das Tool erstellt detaillierte Grafiken und Berichte, die einen Einblick in die Waferbearbeitung und -leistung geben. Die Daten können auch bei der Prozessoptimierung und Charakterisierung verwendet werden. PROMETRIX OMNIMAP RS75 ist robust und zuverlässig, mit einer intuitiven Benutzeroberfläche, die die Einrichtung und Bedienung erleichtert. Die Anlage ist auch anpassbar und kann je nach Anforderungen des Wafer-Test- und Messtechnikprozesses für eine Vielzahl von Anforderungen konfiguriert werden. Die Kombination aus Präzision, Geschwindigkeit und Zuverlässigkeit macht PROMETRIX Omnimap RS-75 zu einer ausgezeichneten Wahl für Wafertests und Messtechnik.