Gebraucht KLA / TENCOR / PROMETRIX Omnimap RS-75 #9190988 zu verkaufen
Es sieht so aus, als ob dieser Artikel bereits verkauft wurde. Überprüfen Sie ähnliche Produkte unten oder kontaktieren Sie uns und unser erfahrenes Team wird es für Sie finden.
Tippen Sie auf Zoom
Verkauft
ID: 9190988
Weinlese: 1997
Resistance mapping system
Measurement range: <5 mΩ/sq - >5MΩ/sq
Appropriate probe head: <0.2% (1σ)
Manually loaded single wafer: ≤60 seconds
Typical measurement time: 49-site test
Measurement capabilities:
Routine check: 1-30 sites programmable (ASTM standard tests included)
XY Map: 1,200 sites programmable
Single/Dual configuration capability
Analysis capabilities:
Contour/3D map: 49, 81, 121, 225, 361, 441, 625 sites
Diameter scan: 49, 81, 121, 225, 361, 441, 625 sites
Probe qualification test: 20 sites, programmable radius
Calibration curves for low-dose monitoring
File editing/data extraction capability
Average difference/ratio maps
Trend/SQC charts
Histograms
Data transfer: SECS II/RS232 Communication (Data upload)
Precision probe heads:
40 mil Probe spacing: 100 gm loading
Tip radius: 1.6, 4, 8 and 20 mil
25 mil Probe spacing: 100 gm loading
Tip radius: 1.6, 4, and 8 mil
62.5 mil Probe spacing: 200 gm loading
Tip radius: 1.6 mil
High-speed tester accommodates all standard wafer diameters
in thicknesses up to 2 mm: 2, 3, and 3.25 in; 100, 125, 150 and 200 mm
Includes:
High-resolution color monitor
1.4 MB, 3.5" floppy drive
Fixed hard drive
Line conditioner
EMO Circuitry
Pentium computer
1997 vintage.
KLA/TENCOR/PROMETRIX Omnimap RS-75 ist eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik mit Präzision und Geschwindigkeit. Das System ist in der Lage, zerstörungsfreie Tests und Messtechnik auf Wafern und anderen Substraten schnell und präzise durchzuführen. Die hochmoderne KLA Omnimap RS-75 verfügt über eine hochauflösende Antireflexbeschichtungs-Videokamera, die zur Beobachtung und Messung der Oberflächen und Kanten eines Wafers dient. Seine erweiterte Optik und Kameraauflösung bieten klarere, detailliertere Bilder und genaue Messungen. Ein erweitertes Softwarepaket zur Durchführung von Operationen wie Bildanalyse, Bildspeicherung und Bildverarbeitung ermöglicht eine schnelle und effiziente Inspektion der Oberfläche und Kanten eines Wafers. Neben der hochauflösenden Anti-Reflexionsbeschichtungs-Videokamera verfügt TENCOR OMNIMAP RS75 über einen extrem genauen, zweiseitigen Wafersensor mit einer Auflösung von 100 µm. Dieser Sensor bietet eine hohe Präzision und Genauigkeit und kann beide Seiten eines Wafers abtasten und somit Fremdpartikel, Grate und Oberflächenunregelmäßigkeiten identifizieren. Das Gerät ist auch mit konfigurierbaren Scan-Mustern ausgestattet, die Flexibilität und Benutzerfreundlichkeit ermöglichen. PROMETRIX Omnimap RS-75 wird auch standardmäßig mit einem leistungsstarken Scanmotor und einem Scan-Algorithmus geliefert. Dadurch kann die Maschine Substrate sowohl in x-y-z-Achsen präzise abtasten als auch das Substrat um die z-Achse drehen. Dies ermöglicht eine schnelle und effiziente Analyse und Verarbeitung und ermöglicht eine umfassende Bewertung des Substrats. Die Flexibilität und Genauigkeit von TENCOR Omnimap RS-75 macht es zu einem außergewöhnlichen Wafer-Prüf- und Messtechnikwerkzeug. Seine erweiterten Konfigurationen und Funktionen machen es zur perfekten Wahl für industrielle Qualitätskontrollen und Inspektionen. Die intuitive Benutzeroberfläche des Asset macht es einfach zu bedienen und bietet Unternehmen ein effizientes und zuverlässiges Wafer-Test- und Metrologiemodell.
Es liegen noch keine Bewertungen vor