Gebraucht KLA / TENCOR / PROMETRIX P-20H #293594524 zu verkaufen

KLA/TENCOR/PROMETRIX P-20H ist eine hochmoderne Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung zur Inspektion von Wafern sowohl auf Vorder- als auch auf Rückseite auf mikroskopischer Ebene. Dieses System verfügt über eine hohe optische Auflösung, was zu genauen und schnellen zerstörungsfreien Messungen führt. Die UCK- P-20H beinhaltet eine einzigartige periphere und gemusterte Wafer-Mapping-Einheit, mit der nicht nur die Oberflächen, sondern auch die physikalischen Merkmale der Wafer topografisch abgebildet werden können. Es verfügt über zweiseitige Inspektion, mit Oberflächen- und Mustermesstechnik von beiden Seiten des Wafers. Darüber hinaus verfügt TENCOR P20H über erweiterte Funktionen wie automatisierte Fehlererkennung, Fehlerkategorisierung und messtechnische Analyse, die eine effizientere und genauere Analyse von Wafern ermöglichen. PROMETRIX P-20H wird durch fortschrittliche proprietäre Algorithmen und logische Bildgebung angetrieben, wodurch es die Möglichkeit bietet, 3D-Messungen der optischen Dicke und des Widerstandes von Wafern sowie die Fähigkeit, eine breite Palette von Fehlertypen zu erkennen, wie Partikeldefekte, elektrostatische Entladung und hergestellte Merkmalfehler. TENCOR P-20H nutzt auch fortschrittliche Licht- und Bildaufnahmetechnologien, einschließlich Licht- und Dunkelfeld-Beleuchtungstechnologie sowie P-20HCCD Kameratechnologie. Die erweiterten Scanfunktionen von KLA/TENCOR/PROMETRIX P20H werden mit der fortschrittlichen Software-Benutzeroberfläche kombiniert. Zu den Funktionen gehören erweiterte Datenverwaltung, Rezeptsteuerung, statistische Fehlerklassifizierung und sein Berichtsgenerator, der alle Ergebnisse in einem leicht lesbaren Format zusammenfasst. Es verfügt auch über grafische Bildbearbeitungsfunktionen, die die manuelle Identifizierung von Fehlern auf den eigenen Geräten des Benutzers ermöglichen. Diese Maschine ist in einem reinraumkompatiblen Gehäuse untergebracht und bietet eine geräuscharme und staubfreie Umgebung für Wafertests und Messtechnik. Diese Umgebung wird durch eine Vielzahl fortschrittlicher Staubfiltertechnologien sowie ein Werkzeug zur Erkennung von Partikeln in der Luft geschützt und isoliert den Wafer weiter von Staubpartikeln, um genaue Messungen von P20H zu gewährleisten. Insgesamt ist P-20H ein Best-in-Class-Wafer-Test- und Messtechnik-Asset, das qualitativ hochwertige, schnelle und genaue Messungen produziert und gleichzeitig eine staubfreie und geräuscharme Umgebung gewährleistet. Es kombiniert fortschrittliche Technologien, optische Auflösung, Software-Benutzeroberfläche und grafische Bildbearbeitungsfunktionen, um dem Benutzer ein zuverlässiges, zuverlässiges Modell zu bieten.