Gebraucht KLA / TENCOR / PROMETRIX P-20H #293662983 zu verkaufen

KLA/TENCOR/PROMETRIX P-20H ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die für die Ausfallanalyse auf Produktionsebene und die Inline-Wafer-Messtechnik konzipiert ist. Es bietet anspruchsvolle Wafer-Testsysteme, die schnelle, hochpräzise Fehleranalysen und Routing-Entscheidungen ermöglichen. Das System bietet präzise Oberflächenmesstechnik für Advanced Process Control (APC) und Ertragsmanagement. Das Gerät kombiniert ein effizientes, multisensorisches Messgerät mit einer leistungsstarken und konfigurierbaren Benutzeroberfläche und bietet eine integrierte Plattform für genaue und schnelle Analysen. Die Maschine umfasst auch automatisierte Software-Tools, die eine schnelle Erkennung kritischer Fehler und eine Ertragsanalyse ermöglichen. Die KLA- P-20H ist in der Lage, Messungen mit hohen Geschwindigkeiten durchzuführen, um den Anforderungen der Produktionsprüfung gerecht zu werden. Die hochgenauen, schnellen und wiederholbaren Messfähigkeiten des Werkzeugs ermöglichen es, Test- und Messergebnisse bereitzustellen, mit denen Fertigungsingenieure herausfordernde Fertigungsprobleme identifizieren können. Das Asset misst verschiedene Oberflächenparameter wie Deckkraft, Reflexion, Dicke, optische Gleichmäßigkeit und Partikelgrößen. Es kann auch konfiguriert werden, um kritische Merkmale wie Werkzeugränder, Geräteabstand, Überlagerung und Linienbreitenmessungen zu messen. Das Modell bietet eine Vielzahl von Optionen für Wafer-Tests und messtechnische Automatisierung, mit denen es sowohl für die Inline-Messtechnik als auch für die Offline-Fehleranalyse verwendet werden kann. Das Gerät kann programmiert werden, um die Wafer-Testergebnisse zu überwachen und zu analysieren und automatische Korrekturmaßnahmen zu ergreifen, wenn es eine Anomalie in den Daten identifiziert. Darüber hinaus unterstützt das System ein erweitertes Visualisierungstool, mit dem Anwender topologische und geometrische Muster sowie prozessbezogene Fehler wie Zeilenbreitenverstöße, Gerät-zu-Gerät-Fehlstellungen und über/unter Ätzen schnell erkennen können. Die TENCOR P20H Einheit ist modular aufgebaut und kann so konfiguriert werden, dass sie spezifischen Anforderungen an Prüfung und Messtechnik gerecht wird. Es besteht aus einer Zentraleinheit und mehreren Modulen, die integriert oder demontiert werden können. Jedes Modul kann für Wafer-Testabdeckung oder Verwendung angepasst werden, wie für parametrische Prüfung und Oberflächenmesstechnik, simultane Wafer-Inspektion, Merkmalsanalyse oder Filmdicken- und Widerstandsmessungen. Insgesamt bietet P-20H Anwendern eine anspruchsvolle Wafer-Test- und Messtechnik-Maschine, die sowohl Inline- als auch Offline-Tests durchführen kann. Der modulare Aufbau und die Flexibilität des Werkzeugs ermöglichen den Einsatz im Test- und Messtechnik-Betrieb auf Produktionsebene sowie im Prozess- und Ertragsmanagement. Seine automatisierten Test- und Messtechnikoptionen ermöglichen es ihm, schnelle, genaue und wiederholbare Mess- und Entscheidungsfindungen bereitzustellen, sodass Benutzer herausfordernde Geräteprobleme schnell und effizient identifizieren können.