Gebraucht KLA / TENCOR / PROMETRIX P-20H #9101209 zu verkaufen

KLA/TENCOR/PROMETRIX P-20H ist ein Hochdurchsatz-Wafer-Test- und Messtechnik-System, das eine Gesamtlösung für erweiterte Fehlerüberprüfung, Wafer-Fehlerberichterstattung und verbesserte Geräteleistungscharakterisierung bietet. KLA P-20H bietet überlegene Präzisions-Wafer und verpackte Geräte-Messtechnik mit erweiterten Fehlerüberprüfungsfunktionen, um Prozessvalidierung und Ertragsverbesserung zu erleichtern. TENCOR P20H unterstützt verschiedene Waferdurchmesser von bis zu 300mm mit Auflösung bis zu 1µm, 3D-berührungslose Profiler, spektroskopische Bildgebungssysteme, optische Lithographiewerkzeuge, Interferometrie- und Streuungslösungen sowie Fehlerinspektion und Durchsatz mit hoher Dichte. Das Gerät hat einen maximalen Durchsatz von bis zu 461 wpm und unterstützt mehrere Wafer-Muster, einschließlich planar, via, wire-bond und doppelseitig. Die Maschine verfügt auch über erweiterte Fehlerüberprüfungstools, mit denen Benutzer Fehler schnell isolieren und kategorisieren können, um Prozesse zu bewerten, Ursachen zu ermitteln und Erträge und Prozesskontrolle zu verbessern. P-20H unterstützt automatisierte Überprüfungsprozesse sowie manuelle Überprüfung komplexer Strukturen wie Mehrebene-Teststrukturen und fortschrittliche FIB-Probenvorbereitung. Darüber hinaus ist das Tool in der Lage, Wafer-Level-Messtechnik für verpackte Geräte und MEMS-Geräte, die schnelle Rückmeldung auf die Leistung. Das Asset ist mit einer intuitiven Benutzeroberfläche ausgestattet, mit der Benutzer schnell neue Projekte einrichten, Ergebnisse überprüfen und Berichte ausführen können. Darüber hinaus umfasst das Modell Software-Tools, mit denen Benutzer Daten schnell analysieren und Grafiken zur Überprüfung erstellen können. Das Gerät ist auch in der Lage, Komponenten von Drittanbietern wie Prüfstationen und Fehlerklassifizierungssysteme zu integrieren. Zusammenfassend ist PROMETRIX P20H ein Hochdurchsatz-Wafer-Test- und Messtechnik-System, das überlegene Präzision und erweiterte Fehlerüberprüfungsfunktionen für Prozessvalidierung und Ertragsverbesserung bietet. Das Gerät ermöglicht eine mehrebene Wafer-Strukturierung, Fehlerüberprüfung und die Charakterisierung von verpackten Geräten mit einem Durchsatz von bis zu 461 wpm. Darüber hinaus erleichtert die benutzerfreundliche Software das schnelle Einrichten von Experimenten und die Analyse von Ergebnissen. Schließlich kann die Maschine auch mit anderen Komponenten integriert werden und bietet eine effektive Gesamtlösung für Wafer-Tests und messtechnische Anforderungen.