Gebraucht KLA / TENCOR / PROMETRIX P-20H #9150863 zu verkaufen

KLA/TENCOR/PROMETRIX P-20H ist eine hochmoderne Wafer-Prüf- und Messtechnik, die präzise und genaue Messungen und Analysen von Halbleiterscheiben ermöglicht. Dieses System verfügt über eine pneumatisch betätigte Mustererkennungsstufe, um eine automatische Ausrichtung von Wafern zur präzisen Prüfung und Abtastung zu gewährleisten. Es wird auch mit einer Hochleistungs-4-Achsen-Positionierungseinheit ausgestattet, die sehr genaue Bewegungskontrolle für die Oblate scannende und prüfende Voraussetzungen erreichen kann. Darüber hinaus ist die Maschine für eine Vielzahl von Wafergrößen und -konfigurationen ausgelegt und kann Daten aus verschiedenen Bereichen auf der Waferoberfläche sammeln. Das KLA P-20H-Tool umfasst eine Vielzahl von messtechnischen Optionen, wie Filmdickenmessungen, Wafer-Verzugsmessungen, Widerstandsmessungen, Kontaktwiderstandsmessungen, Waferkantenmessungen und Bildgebung. Darüber hinaus bietet es eine Vielzahl zusätzlicher Messoptionen wie Partikelscannen, Topographieanalyse und Spannungsmapping für tiefergehende Tests und Analysen. Der Inspektionsbereich ist in der Lage, bis zu dreißig zwei 6-Zoll-Wafer aufzunehmen, die schnell und gleichzeitig getestet und gescannt werden können. Die Benutzeroberfläche des Objekts wurde entwickelt, um die einfache Bedienung zu erleichtern und eine intuitive Einrichtung und Überwachung zu ermöglichen. Darüber hinaus kann das Modell ferngesteuert und in andere Steuerungssysteme integriert werden. Die Benutzeroberfläche ist auch auf die schnelle und genaue Erkennung von Fehlerpunkten zugeschnitten. Es ermöglicht die Erfassung von Datenprotokollen und die Messung der Position der Wafer für detailliertere Analysen und Berichtsergebnisse. TENCOR P20H Geräte sind so konzipiert, dass sie auch bei möglichst hohen Durchsatzraten zuverlässige und genaue Test- und Messtechnikergebnisse liefern. Es ist auch mit fortschrittlichen Sicherheitsfunktionen ausgestattet, um sicherzustellen, dass Wafer-Tests sicher und sicher durchgeführt werden. Darüber hinaus ist es auf ISO 9000-Standards ausgelegt, was eine höhere Rückverfolgbarkeit der erhobenen und verarbeiteten Daten ermöglicht. Insgesamt ist KLA P20H Wafer-Prüf- und Messsystem ein leistungsfähiges und zuverlässiges Werkzeug für präzise Tests und Datenerfassung aus Halbleiterscheiben. Seine intuitive Benutzeroberfläche und verschiedene Testfunktionen machen es zu einer idealen Wahl für jede Anwendung, die detaillierte und genaue Daten bei hohen Durchsatzraten benötigt.