Gebraucht KLA / TENCOR / PROMETRIX P16 #9267136 zu verkaufen

KLA/TENCOR/PROMETRIX P16 ist eines der führenden Wafer-Prüf- und Messtechnik-Systeme auf dem Markt. Es wurde entwickelt, um die qualitativ hochwertigste Wafer-Prüfung zu gewährleisten, so dass Kunden ihre Geräte mit Geschwindigkeit und Präzision vollständig charakterisieren können. Dieses Gerät kombiniert die neueste Technologie in der optischen Messtechnik und Rasterelektronenmikroskopie (SEM), um die genauesten Wafertests zu liefern. KLA P16 System integriert eine Halbleiter-Wafer-Handhabungseinheit, einen Scankopf und eine optische Linse in einem Gehäuse. Dies ermöglicht eine schnelle und effiziente Bewegung des Wafers und liefert gleichzeitig genaue messtechnische Messwerte. Die optische VECTOR-STAR® -Linse bietet scharfe Bilder selbst der anspruchsvollsten Funktionen, während der hochauflösende Detektor eine außergewöhnliche Signal-zu-Rausch-Leistung gewährleistet. Die integrierten hochauflösenden SEM- und Backside-Imaging-Funktionen (BSI) ermöglichen eine detaillierte Analyse von Gerätestrukturen und Materialien, während die optimierte Scan-Geschwindigkeit den Durchsatz erhöht und die Ausbeute verbessert. TENCOR P-16 Maschine verfügt auch über erweiterte Automatisierungsfunktionen. Seine intuitive Benutzeroberfläche macht erweiterte Wafertests und automatisierte Moduseinstellungen einfach und schnell. Die automatisierte Moduseinstellung ermöglicht eine einfachere Steuerung von Variablen und gewährleistet präzise und wiederholbare Testergebnisse in kürzerer Zeit. PROMETRIX P-16 Tool ist eine ideale Wahl für Zuverlässigkeitstests, Ertragstests, Wafer-Mapping und Prozesscharakterisierung. Es ist auch die bevorzugte Wahl von Forschern und Technikern in der Halbleiterherstellung, da es die Genauigkeit und Wiederholbarkeit liefert, die für heutige Hochleistungsgeräte erforderlich ist. Die Anlage ist für einfache Nutzung und Wartung konzipiert, so dass sie mit minimalem technischen Support verwendet werden kann. Insgesamt ist PROMETRIX P16 ein modernes Wafer-Test- und Metrologiemodell. Es kombiniert Präzisionsoptik, hochauflösende Erkennung und schnelle Automatisierung, um präzise Wafertests einfach und wiederholbar zu machen. Mit seinen fortschrittlichen Funktionen ist es die ideale Wahl für jede Halbleiteranwendung.