Gebraucht KLA / TENCOR / PROMETRIX RS-35 #9284324 zu verkaufen

KLA/TENCOR/PROMETRIX RS-35 ist eine hochpräzise Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die fortschrittliche messtechnische Fähigkeiten bietet. Dieses System bietet Auf-Wafer-Charakterisierung, Prozesskontrolle und Fehlerüberprüfung und -analyse und bietet die detaillierteste und genaueste Analyse der verfügbaren Wafer und Geräte. Es verwendet eine hochmoderne Bildaufnahmeeinheit, um 2D- und 3D-Bilder mit bis zu 1000 x 1000 Pixeln schnell zu erfassen. KLA RS35 führt den Bediener automatisch durch jeden Schritt und beinhaltet eine hochauflösende optische Maschine mit motorisierten Stufen mit Abtastbereichen von bis zu 10 cm. Es ist mit fortschrittlichen Algorithmen ausgestattet, um eine automatisierte Identifizierung und Optimierung der Funktionen während des Scanvorgangs sicherzustellen. TENCOR RS 35 soll die Entwicklung von hochpräzisen Bauelementmerkmalen auf Halbleiterscheiben wie flachen Strukturen, Linienbreiten, Stufenhöhen und Terrassenstrukturen unterstützen. Es ist mit einer Reihe von Metrologie-Tools ausgestattet, einschließlich optischer Streuung und Fourier-Transformation Infrarot-Spektroskopie, für mehr korrekte Charakterisierungen. Die Kombination dieser Werkzeuge ermöglicht eine umfassende Visualisierung des untersuchten Gerätes sowie eine sehr präzise und genaue Messung seiner verschiedenen Attribute. Darüber hinaus verfügt die KLA RS-35 über Software-Tools zur Datenanalyse wie Fehler-, Bild- und Parameterberechnung sowie alle notwendigen Tools zur Datenberichterstattung und -verwaltung. Seine Datenanalysefunktionen ermöglichen die Erkennung von Defekten und Unregelmäßigkeiten mit einer Echtzeit-3D-Produktvisualisierung. Darüber hinaus kann es mit anderen KLA-Systemen verbunden werden, was eine automatische Programmübertragung und verbesserte Datensynchronisation ermöglicht. Insgesamt ist RS-35 ein hochentwickeltes Werkzeug, das mit den neuesten Technologien und Ressourcen in der Wafertestung und Messtechnik ausgestattet ist. Seine Fähigkeiten, Genauigkeit und Benutzerfreundlichkeit machen es ideal für die Analyse und Entwicklung von hochpräzisen Bauelementmerkmalen auf Halbleiterscheiben.