Gebraucht KLA / TENCOR / PROMETRIX RS-35C #9293257 zu verkaufen

KLA/TENCOR/PROMETRIX RS-35C Wafer Testing and Metrology Equipment ist ein leistungsstarkes, hochpräzises und vollautomatisches Werkzeug zur Bewertung der Oberflächentopologie von Halbleiterscheiben. Das System verwendet eine Vielzahl fortschrittlicher optischer, mechanischer und elektrischer Messungen, um detaillierte Informationen über die Waferoberfläche und die damit verbundenen Materialeigenschaften bereitzustellen. Die Sonde und der Messkopf sind hochpräzise Werkzeuge, die auch geringste Veränderungen in Topographie und Substratqualität erkennen können. KLA RS-35C Einheit ist in der Lage, eine Vielzahl von Oberflächenmessungen und messtechnischen Dienstleistungen durchzuführen, einschließlich, aber nicht beschränkt auf Oberflächenrauhigkeit, Kontaktwinkel, Oberflächenprofil, Oberflächenneigung, Partikelgröße, Zusammensetzung, Oberflächengüte, Oberflächenstruktur und Funkenentladungsmessungen. Es führt auch eine Vielzahl von mikroskopischen Bildern, wie Rasterelektronenmikroskopie (SEM), Atomkraftmikroskopie (AFM) und Rastertunnelmikroskopie (STM). Darüber hinaus führt die Maschine Fehlererkennung, Fehlerklassifizierung und Gerätegeometrien durch sowie liefert Hardwarevergleich, Charakterisierung in globalen und lokalen Koordinaten, 3D-Analyse und 3D-Nähten. TENCOR RS 35C-Werkzeug kommt mit einer Raman-Spektroskopie-Option, die laserinduzierte Fluoreszenz verwendet, um verschiedene chemische Spezies auf der Oberfläche eines Wafers zu erkennen. Die Anlage verfügt außerdem über einen Partikelzähler, der Partikeleigenschaften in Größe, Form und Zusammensetzung sowie ein Kontaktwinkelmessmodell misst. Letztere messen mit einer optischen Technik Kontaktwinkel zwischen Materialien und Flüssigkeiten. RS 35C-Geräte sind vollautomatisch und computergesteuert und bieten eine Reihe fortschrittlicher Steuerungs- und Verarbeitungsfunktionen. Es basiert auf einer modularen Architektur mit flexiblen Bewegungssteuerungskomponenten, die hohe Präzision und automatisierte Operationen ermöglicht und schnelle Anlaufzeiten ermöglicht. Es verfügt auch über erweiterte Analyse, digitale Bild- und Signalverarbeitung und eine benutzerfreundliche Oberfläche, die eine einfache Anpassung des Tools an die Bedürfnisse und Anwendungen des Benutzers ermöglicht. RS-35C System bietet wiederholbare und zuverlässige Messungen mit beispielloser Genauigkeit, Wiederholbarkeit und Reproduzierbarkeit und ist damit ein ideales Werkzeug zur Bewertung der Halbleiterscheibenqualität. Seine Flexibilität und sein breites Spektrum an Mess- und Analysefähigkeiten machen es zu einem wertvollen Werkzeug für Wafertests in einer Vielzahl von Branchen wie der Halbleiter-, Automobil-, Luft- und Raumfahrt-, Elektronik-, optischen und medizinischen Industrie.