Gebraucht KLA / TENCOR / PROMETRIX RS-35E Omnimap #9187374 zu verkaufen

KLA/TENCOR/PROMETRIX RS-35E Omnimap ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung für den Einsatz in der Halbleiterherstellung und -herstellung. Dieses System ermöglicht eine schnelle, genaue und umfassende Analyse der Oberflächentopographie eines Wafers. Das Gerät verfügt über eine Autofokus- und Auto-Exposure-Bildverarbeitungsmaschine sowie automatisierte mehrere 3D-Messungen und hochauflösende Bildverarbeitung. KLA RS-35E Omnimap besteht aus drei Komponenten: einer Bühne, einem optischen Werkzeug und einem Asset-Controller. Das Modell ist mit einer großen Scanstufe und kleiner Stellfläche konzipiert, was es zu einer idealen Wahl für Produktionstests macht. Die Stufe verfügt über eine motorisierte Antriebseinrichtung und ist in der Lage, flache Wafer mit einer präzisen linearen Geschwindigkeit bei einem Geschwindigkeitsbereich abzutasten. Das System verwendet eine Kombination aus Luftlagern und einem Differentialstufenantrieb für optimale Leistung und Genauigkeit. Die optische Einheit besteht aus einem hochauflösenden 3D-konfokalen Abbildungskopf, der eine automatisierte Oberflächenabbildung asphärischer Merkmale ermöglicht. Es verwendet eine patentierte hochauflösende Laserautofokusmaschine, die höchste Präzision und Genauigkeit bei Oberflächenmessungen gewährleistet. Ein digitales Bildgebungs-Tool bietet hochauflösende optische Bildgebung mit 4k-Pixel-Auflösung, wodurch Benutzer Oberflächentopologien mit hohen Details visualisieren und analysieren können. Schließlich ist TENCOR RS-35E Omnimap auch mit einem benutzerfreundlichen Asset-Controller ausgestattet, der über eine grafische Benutzeroberfläche und leistungsstarke Software verfügt. Diese Software umfasst Funktionen für mehrere 3D-Messungen sowie Tools zur Datenvisualisierung, -analyse und -berichterstattung. PROMETRIX RS-35E Omnimap wurde entwickelt, um eine zuverlässige und genaue Messung der Oberflächentopographie eines Wafers zu ermöglichen. Es verfügt über automatisierte mehrere 3D-Messungen und hochauflösende Bildgebung, so dass es eine ideale Wahl für erweiterte Wafer-Tests und Messtechnik. Dieses Modell ist perfekt für die Herstellung und Herstellung von Halbleitern geeignet und gewährleistet höchste Präzision und Genauigkeit bei der Oberflächenmessung.