Gebraucht KLA / TENCOR / PROMETRIX RS-55 #293628451 zu verkaufen

KLA / TENCOR / PROMETRIX RS-55
ID: 293628451
Resistivity mapping system.
KLA/TENCOR/PROMETRIX RS-55 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die hochauflösende Bildgebungs- und Analysefunktionen bietet. Das System misst die elektrischen Eigenschaften einer Waferoberfläche für hochauflösende Bildgebung, Fehlererkennung und Messung. Der Sieben-Mikron-Laserstrahl auf dem Gerät verwendet eine Vielzahl etablierter Inspektionstechniken, um die Eigenschaften der Proben zu analysieren, einschließlich optischer/elektrischer Messungen, Mikrostrukturbildgebung und 3D-Profil-Messtechnik. KLA RS55 verfügt über einen automatisierten Wafer-Prüf- und Inspektionsprozess und unterstützt sowohl Front- als auch Rückseitenmessungen. Waferproben werden in die Maschine geladen und mit einem Vakuumfutter gehalten. Die Proben werden dann einem Sieben-Mikron-Laserstrahl ausgesetzt, der ihre Oberflächenmerkmale und elektrischen Eigenschaften misst. Die Laserabtaststufe bewegt die Probe zwischen den Durchgängen, um sicherzustellen, dass die Probe gründlich gescannt wird. Alle Messungen werden in einer Datenbank gespeichert, auf die später zugegriffen werden soll oder die in der weiteren Analyse verwendet wird. TENCOR RS 55 verwendet eine proprietäre Dual-Head-Konfiguration, die hilft, schnelle und zuverlässige Analyseergebnisse zu liefern. Das Tool bietet schnelles 3D-Scannen, um die Höhe, Breite und andere Abmessungen der Probe genau zu messen. Dies ermöglicht eine genauere Fehlererkennung und eine verbesserte Prozesskontrolle. Das Asset verfügt auch über erweiterte Optik, um eine detailliertere Bildgebung und Analyse der Probe zu ermöglichen. Das Modell enthält auch eine erweiterte Defekt-Bildgebung und Analyse-Suite, die hochauflösende Optik und Signalverarbeitungstechniken verwendet, um Fehler zu identifizieren. Die Software-Suite umfasst Tools wie automatisierte Fehlerlokalisierung, Vogelperspektive-Analyse, Querschnittsbildgebung und Bildsubtraktion. KLA RS-55 verwendet fortschrittliche Algorithmen zur Kantenerkennung und Bildsegmentierung, um eine schnellere und effizientere Fehlererkennung und -analyse zu ermöglichen. Das Gerät verfügt zudem über einen zuverlässigen, benutzerfreundlichen Workflow, der eine schnelle Test- und Messtechnik ohne Kompromisse bei der Genauigkeit ermöglicht. Schließlich verfügt das System über integrierte Datenanalysefunktionen. Dies hilft, den Zeit- und Aufwand für die Datenanalyse zu reduzieren und ermöglicht eine genaue Datenerkennung. All diese Merkmale machen KLA RS 55 zu einer idealen Lösung für Wafertests und Messtechnik.
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