Gebraucht KLA / TENCOR / PROMETRIX RS-55TCA #9312456 zu verkaufen

KLA/TENCOR/PROMETRIX RS-55TCA Wafer Testing and Metrology Equipment ist ein High-End-Halbleitermesstechnikinstrument, das speziell für die genaue, zuverlässige und präzise Messung von Gerätestrukturen auf Waferebene auf Siliziumsubstraten entwickelt wurde. Es verfügt über ein patentiertes, hochauflösendes Bildverarbeitungssystem, eine hochmoderne Bildverarbeitung, Datenhandhabungs- und Analysesoftware sowie eine flexible und intuitive Benutzeroberfläche. Das Gerät bietet automatisierte Messtechnik und Wafertests, die eine schnelle und genaue Bestimmung der hochpräzisen Wafertopographie und der Geräteparameter ermöglichen. Dies ermöglicht genaue Messungen kritischer Parameter wie Foliendicke, Schritthöhe, Linienbreite, Overlay und andere. Es bietet auch eine präzise Ausrichtung und Registrierung von Messungen und Wafern, automatisierte Inspektionen sowie optische und elektrische Tests für Siliziumwafer. KLA RS 55 TCA Maschine kann mit hohen Geschwindigkeiten arbeiten, um bis zu 16 volle Wafer in einem einzigen Lauf zu scannen. Es bietet auch fortschrittliche Bildgebungs- und Analyselösungen mit einer Vielzahl von Optionen von der Kantenprofilerkennung bis zur automatisierten Fehlerinspektion. Das Werkzeug ist auch in der Lage, gleichzeitige Probenvorbehandlungsprozesse wie Reinigung und Aushärtung durchzuführen. Dies ermöglicht schnelle, genaue Wafertests, wodurch manuelle Bedienung und Nacharbeit entfallen. Die proprietären Bildverarbeitungsalgorithmen bieten hervorragenden Bildkontrast und scharfe Bilder zur genauen Messung von Wafereigenschaften. Das Asset ist auch leicht aufrüstbar und bietet Benutzern die Flexibilität, ihre Systeme auf die neuesten Technologien in der Messtechnik zu aktualisieren. Die erweiterten Automatisierungsfunktionen des Modells ermöglichen es Benutzern, Kosten und Zeit im Zusammenhang mit Gerätetests zu reduzieren. TENCOR RS-55/TCA Wafer Testing and Metrology Equipment ist eine kostengünstige Lösung für Wafer-Tests und messtechnische Anforderungen. Es verfügt über eine intuitive und einfach zu bedienende Benutzeroberfläche, robuste Datenverarbeitungsfunktionen und anspruchsvolle automatisierte Prozesse. Dies macht es ideal für den Einsatz in einer breiten Palette von Industrie- und Forschungsmesstechnik und Materialtestanwendungen, von der fortschrittlichen Geräteanalyse von Halbleiterstrukturen bis zur fortschrittlichen Fehleranalyse von MEMS-Geräten.