Gebraucht KLA / TENCOR / PROMETRIX RS-75 #9163275 zu verkaufen

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ID: 9163275
Weinlese: 1998
Probe system Resistivity profiler 1998 vintage.
KLA/TENCOR/PROMETRIX RS-75 Wafer Testing and Metrology Equipment ist ein Präzisionsgerät zur zerstörungsfreien Prüfung, Charakterisierung und Messtechnik von Materialien in der Halbleiterindustrie. Dieses System bietet eine hohe Produktivität durch Erhöhung des Durchsatzes, der Genauigkeit und der Automatisierung. KLA RS75 ist eine automatisierte berührungslose Einheit, die in der Lage ist, eine Vielzahl von physikalischen Eigenschaften von Halbleitermaterialien zu messen, einschließlich Dielektrizitätskonstante, Restspannung, Schichtdicke, Hohlraumgehalt und Oberflächenrauhigkeit. Die Maschine bietet auch umfassende Wafer-Testfunktionen durch optimierte Algorithmen und Funktionen wie lineare Scan-Steuerung, Scan-Synthese und 3D-Bild-Scan. Das Werkzeug ist mit einer hochauflösenden Kameraanlage und einer Präzisionsmessstufe ausgestattet. Das optische Subsystem ermöglicht die Vollfeldmessung von Wafern in einer Vielzahl von Anwendungen. TENCOR RS 75 bietet auch flexible Werkzeuglösungen für genaue Tests und Messtechnik an verschiedenen Standorten. Das Modell wird von der Windows-basierten PROMETRIX RS-75 Software gesteuert. Diese Software wurde entwickelt, um eine einfache Datenanalyse aus Messungen zu ermöglichen. Es ermöglicht auch eine effiziente Einrichtung und Kalibrierung von Scanfunktionen und bietet eine umfassende grafische Benutzeroberfläche für die vollständige Prozesssteuerung und Datenerfassung. RS-75 verfügt über die neueste 3D-Scantechnologie, die hohe Geschwindigkeit und Genauigkeit ermöglicht. Es bietet auch verschiedene Scanstrategien und mehrere Messmöglichkeiten. TENCOR RS75 liefert auch präzise und zuverlässige Schlüsselsortierungsantworten. KLA/TENCOR/PROMETRIX RS 75 ist der erste seiner Art und bietet hohe Leistung und Zuverlässigkeit, während eine wirtschaftliche und kostengünstige Lösung für Halbleiterprüfung und Messtechnik. Es kann verwendet werden, um eine Vielzahl von Parametern zu messen, einschließlich Dielektrizitätskonstante, Restspannung, Schichtdicke, Hohlraumgehalt und Oberflächenrauhigkeit. TENCOR RS-75 Wafer Testing and Metrology Equipment ist ein zuverlässiges, innovatives System zur Prüfung und Messtechnik.
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