Gebraucht KLA / TENCOR / PROMETRIX SM 300 #293766761 zu verkaufen

KLA/TENCOR/PROMETRIX SM 300 ist eine High-End-Wafer-Prüf- und Messtechnik, die für die präziseste Halbleiterprüfung und -analyse entwickelt wurde. In der Lage, komplexe Halbleiterstrukturen und -bauelemente mit hoher Genauigkeit und Präzision zu messen, ist das System für die Analyse mikroelektronischer Bauelemente von Kleinwiderständen und Kondensatoren bis hin zu Großspeicherbauelementen, integrierten Schaltungen und mehr ausgelegt. KLA SM 300 nutzt die modernste optische Bildgebungstechnologie zur Analyse und Messung von Halbleiterstrukturen und bietet eine klare und detaillierte Bildgebung mit unübertroffener Genauigkeit und Präzision. Dies wird durch die hochempfindliche 4-Axis Abtasteinheit erreicht, die die Auflösung von Oberflächenmerkmalen bis zu 0,1 µm ermöglicht. Die Maschine verwendet auch einen proprietären Kantenerkennungsalgorithmus, um die Effektivität der Kantenerkennung und der Bildsegmentierung zu verbessern. TENCOR SM 300 ist mit einer leistungsstarken Suite von Messtechnik und Analysewerkzeugen ausgestattet. Dazu gehören ein AL-geschnittenes Messtechnikwerkzeug zur Messung von durchgehenden Silizium-via (TSV) -Strukturen und ein Weitwinkel-Messtechnikwerkzeug, das zur Analyse fortschrittlicher Verbindungsstrukturen wie der Advanced Fan-Out Technology (AFOT) verwendet werden kann. Weitere Messtechnik und Analysetools umfassen die photometrische Bildgebung und die Stempel-Vergleichsfähigkeit. PROMETRIX SM 300 ist extrem flexibel und kann auf spezifische Anwendungen und individuelle Bedürfnisse zugeschnitten werden. Beispielsweise kann das Tool mit einer Vielzahl von Scan- und Messoptiken konfiguriert werden, um die genauesten Daten für komplexe Gerätestrukturen und fortschrittliche Technologien wie TSV-Strukturen bereitzustellen. Darüber hinaus ist das gesamte Asset so konzipiert, dass es mit anderen Geräten und Laborautomatisierungen integriert werden kann, sodass es noch vielseitiger und effizienter ist. SM 300 ist die perfekte Wahl für fortgeschrittene Halbleiterinspektion und -analyse. Mit seiner hohen Genauigkeit, Präzision und Flexibilität ist das Modell in der Lage, die anspruchsvollsten Anforderungen an Wafertests und Messtechnik zu erfüllen.