Gebraucht KLA / TENCOR / PROMETRIX SM 300 #9188572 zu verkaufen

ID: 9188572
Film thickness mapping system Heads Manual included.
KLA/TENCOR/PROMETRIX SM 300 ist eine speziell für die Messung und Prüfung der Qualität von Wafern entwickelte Ausrüstung. Es verfügt über eine hohe Geschwindigkeit, hohe Genauigkeit und eine große Kapazität für breite und variable Anwendungen. Die KLA SM 300 ist als Teil eines kompletten Messtechniksystems konzipiert, das aus dem Herstellungsprozess folgt, um sicherzustellen, dass die Komponenten ordnungsgemäß hergestellt werden. Es bietet verschiedene Möglichkeiten wie Bildgebung, Fehlererkennung und Positionsgenauigkeit für Wafer, die in der modernen Halbleiterproduktion wichtig sind. Diese Einheit besteht aus verschiedenen Komponenten, die zusammenarbeiten, um die Waferqualität zu gewährleisten. Das optische Teilsystem von TENCOR SM 300 verwendet je nach Anwendung sowohl einen weißen als auch einen roten Laserstrahl. Diese Laser werden gemeinsam eingesetzt und dienen dazu, Fehler schnell und genau zu messen, zu untersuchen und zu erkennen. Die Ausrichtmaschine bietet präzise und präzise Bildgebung, während die Inspektionssysteme eine Echtzeit- und Tiefenanalyse bieten. Das Messsubsystem des PROMETRIX SM 300 verfügt über eine hohe Geschwindigkeit und präzise lineare Messfähigkeit, wodurch die Waferqualität erhalten bleibt. Die Messsysteme bieten Details zu Waferform, Oberflächenrauhigkeit und Kantenmerkmalen. Das Teilsystem zur Fehlererkennung verwendet optische Mikroskopie, akustische Mikroskopie und Bildgebung, um Waferdefekte schnell und genau zu erkennen. Schließlich verarbeitet die Messtechnik-Software in SM 300 die Eingaben aus den Teilsystemen Messung, Bildaufnahme und Analyse. Diese Daten werden dann verwendet, um die Produktivität, Genauigkeit und Leistung eines Wafers zu analysieren, zu vergleichen und zu bewerten. Die Software ermöglicht auch das Melden und Plotten von Funktionen, die Metriken zur Waferleistung liefern. Insgesamt ist KLA/TENCOR/PROMETRIX SM 300 ein zuverlässiges und effizientes Werkzeug zur Messung und Prüfung der Qualität von Wafern. Es bietet hohe Geschwindigkeit, hohe Genauigkeit und eine große Kapazität, die für eine Vielzahl von Anwendungen verwendet werden kann. Die verschiedenen Komponenten und Software sorgen dafür, dass die Waferqualität erhalten bleibt und Produktivität und Leistung verfolgt werden.
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