Gebraucht KLA / TENCOR / PROMETRIX UV 1050 #9200114 zu verkaufen

KLA / TENCOR / PROMETRIX UV 1050
ID: 9200114
Film thickness mapping system.
KLA/TENCOR/PROMETRIX UV 1050 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die fortschrittliche lichtbasierte Technologien mit leistungsstarker automatisierter Mikroskopie integriert. Es nutzt ein innovatives Design, um messtechnische Lösungen auf Waferebene für die schnelle Identifizierung, Charakterisierung und Diagnose von Waferoberflächenmerkmalen anzubieten. Mit diesem System können Benutzer die Waferoberflächeneigenschaften wie Partikelform, Dichte und Größenverteilung schnell auswerten und bewerten. Darüber hinaus kann es für Fehlerinspektionen, Prozesskontrollen und Qualitätssicherungsanwendungen verwendet werden. Das Gerät verfügt über ein modernes UV-Mikroskop mit einem Paar Langstreckenobjektiven zur Unterstützung der Analyse berührungsloser Waferoberflächenmerkmale aus sicherer Entfernung. Es verfügt über eine Laser-Ausrichtungs-Messmaschine, die eine genaue Positionierung und Abbildung des Probenwafers gewährleistet. Die Probe wird auf eine X-Y-Stufe gelegt und anschließend unter einer UV-Lichtquelle abgebildet, um kleine Partikel von unter 1 Mikron zu identifizieren. Die eingebaute Autofokus- und Kantenausrichtungstechnologie hilft, den Wafer präzise auszurichten und das hochauflösende Bildgebungswerkzeug bietet eine hervorragende Empfindlichkeit bei der Detektion kleiner Partikel. Die leistungsstarken Bildanalyse-Algorithmen ermöglichen eine automatisierte Datenerzeugung und kritische Mustererkennungsaufgaben. Dieses Asset verfügt über eine intuitive grafische Benutzeroberfläche mit anpassbaren Menüs und eine breite Palette von Messwerkzeugen, mit denen Benutzer ihre Beispieleigenschaften besser verstehen können. Darüber hinaus bietet die intuitive Softwareplattform eine umfassende Bibliothek mit Algorithmen und Protokollen zur Unterstützung automatisierter Messtechnik und Visualisierungsaufgaben. Dieses Modell ist in der Lage, eine Vielzahl von Oberflächenprüfaufgaben durchzuführen, z. B. Fehlermoderation und Repatterning-Analyse. Darüber hinaus stehen sehr detaillierte mikrostrukturelle Auswertefunktionen zur Verfügung. Ein ausführlicher Bericht mit präzisen Wafer-Pegelmessungen und umfassenden grafischen und Datenpräsentationswerkzeugen zeigt die Ergebnisse des Auswertungsprozesses. KLA UV 1050 ist eine kompakte, benutzerfreundliche Lösung für Wafer-Level-Messtechnik und Inspektionsanforderungen. Die erweiterten Bild- und Datenerfassungsfunktionen bieten beispiellose Inspektionsmöglichkeiten und eine intuitive grafische Benutzeroberfläche vereinfacht die Bedienung einer Vielzahl von Mess- und Analyseaufgaben. Ein robustes Set an zusätzlichen Funktionen, die dieses Gerät bietet, sorgen für mehr Zuverlässigkeit, Flexibilität und Wirtschaftlichkeit. Die hohe Produktivität des Systems trägt weiter zu seinem Gesamtwert bei.
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