Gebraucht KLA / TENCOR / PROMETRIX UV 1050 #9402299 zu verkaufen

KLA / TENCOR / PROMETRIX UV 1050
ID: 9402299
Wafergröße: 6"
Film thickness measurement system, 6".
KLA/TENCOR/PROMETRIX UV 1050 ist eine hochmoderne Wafer-Prüf- und Messtechnik, die speziell für die Anforderungen der Halbleiterindustrie entwickelt wurde. Das System bietet erweiterte Charakterisierungsfunktionen, so dass der Benutzer die Leistung von integrierten Schaltungen, photonischen Geräten, MEMS und anderen mikroelektronischen Komponenten schnell und genau analysieren kann. Hohe Geschwindigkeit, hohe Genauigkeit und zerstörungsfreie Prüfung sind das Herzstück der unübertroffenen Leistung von KLA UV 1050. Mit einer ultravioletten Laserquelle zur Anregung von Wafern im Bereich von 254-368 Nanometern kann das Gerät sehr kleine Defekte erkennen und die Prüfung bei hohen Geschwindigkeiten durchführen. Die Maschine bietet auch eine bildgebende Option, um Zugriff auf detaillierte Informationen auf Schaltungsebene zu ermöglichen. Dies ermöglicht die Erkennung von minutenlangen Defekten, die ansonsten nicht nachweisbar wären. Mit dieser Option können Benutzer Fehlerisolierung, Schaltkreiszuordnung und eine Vielzahl anderer Funktionen beobachten. Das Tool enthält ein automatisiertes Mapping-Asset, das die Erkennung lokaler Fehler in einem bestimmten Bereich des Wafers ermöglicht. Darüber hinaus umfasst das Modell einen dreidimensionalen Oberflächenscan, der eine Analyse der Oberfläche des Wafers ermöglichen kann. So können Anwender die Topographie visualisieren und Unregelmäßigkeiten ermitteln, die einer weiteren Untersuchung bedürfen. Die messtechnischen Fähigkeiten von TENCOR UV-1050 wurden verbessert, um eine Vielzahl von Messtypen zu unterstützen. Dazu gehören kritische Maßmessungen, kritische Flächenmessungen und Überlagerungsmessungen. Das Gerät bietet auch Fehleranalysefunktionen, die Fehlererkennung, Größenerfassung und -einstufung sowie Fehlerüberprüfung umfassen. UV 1050 ist in der Lage, schnelle, zerstörungsfreie Wafertests und Messtechnik durchzuführen. Es verfügt über eine hochempfindliche ultraviolette Laserquelle, erweiterte Bildgebungsfunktionen und automatisierte Mapping-Tools. Seine erweiterten Fähigkeiten ermöglichen es ihm, die Leistung von Halbleiterschaltungen schnell zu messen und zu analysieren, wodurch der Benutzer einen umfassenden Überblick über seine Ergebnisse erhält. Das System wurde entwickelt, um den hohen Anforderungen der Halbleiterindustrie gerecht zu werden, was es zu einer idealen Wahl für diejenigen macht, die sowohl Geschwindigkeit als auch Präzision suchen.
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