Gebraucht KLA / TENCOR / PROMETRIX UV 1080 #9231980 zu verkaufen

KLA/TENCOR/PROMETRIX UV 1080 ist eine Wafertest- und Messtechnik-Ausrüstung, die fortschrittliche ultraviolette Bildgebungstechnologie verwendet. Dieses System wurde entwickelt, um spezielle messtechnische Aufgaben auf Wafern durchzuführen, die ultravioletter Strahlung ausgesetzt wurden. Dieses Gerät ist in der Lage, einen vollen Wafer in Minuten automatisch zu überprüfen und zu klassifizieren, um eine genaue und konsistente Klassifizierung zu gewährleisten. Die Kerntechnologie hinter der Maschine nutzt ultraviolette Bildgebung, um die Waferoberfläche zu messen und zu sortieren. UV-Bildgebung verwendet mehrere UV-Wellenlängenbänder, um mikroskopische Schwankungen in der Waferoberfläche genau zu erfassen. Das bildgebende Werkzeug erfasst die Daten aus dem Wafer in jedem Band und ist in der Lage, einzelne Partikel, Defekte und Mikrostrukturen zu unterscheiden. Die erfassten Bilder werden mit Wafermusterdatenbanken verglichen, um den Wafer genau zu klassifizieren. Das Asset umfasst auch eine automatisierte Fehlerortung und ein Mapping-Modell, das fehlerhafte Bereiche der Waferoberfläche schnell erkennt und aufzeichnet. Dieses Gerät verwendet einen speziellen Algorithmus, um gängige Fehlertypen wie Flachkanten, Spritzen, feine Partikelverunreinigungen und Delaminationen zu identifizieren. Die Fehlerkarte ermöglicht es dem Anwender, die Eigenschaften des Wafers schnell zu verstehen und für weitere Analysen leicht zu analysieren. KLA UV 1080 enthält auch ein Wafer-Scanning-System. Diese Einheit umfasst eine hochauflösende Mikroskoplinse und eine Rasterstufe, die sich in bestimmten Abständen auf und ab der Waferoberfläche bewegt. Diese Maschine ist in der Lage, große Datenmengen zu sammeln, die dann von einem automatisierten Extraktor verarbeitet werden. Features-Extraktoren ermöglichen es Benutzern, Fehler, Defekte und andere Eigenschaften der Waferoberfläche schnell zu identifizieren. Das Tool ist auch mit fortschrittlicher Feature-Analyse-Software ausgestattet, die es dem Benutzer ermöglicht, mikroskopische Merkmale und Unterschiede innerhalb des Wafers zu identifizieren und zu analysieren. Diese Eigenschaftsanalyse schließt kundengerecht angefertigte Eigenschaftsförderung, Eigenschaftsvergleichanalyse und Eigenschaftsintensitätsanalyse ein. Diese Software bietet Benutzern die Möglichkeit, Fehler, Partikel und andere Eigenschaften auf der Waferoberfläche genau zu identifizieren und zu klassifizieren. TENCOR UV-1080 liefert den Anwendern die genauen Daten, die für genaue messtechnische Aufgaben auf Wafern benötigt werden, die ultravioletter Strahlung ausgesetzt sind. Dieses Asset nutzt fortschrittliche ultraviolette Bildgebungstechnologie, automatisierte Fehlerortung und -zuordnung sowie leistungsstarke Funktionsanalysen zur schnellen und genauen Klassifizierung von Wafern. Die Datenerfassungsfunktionen des Modells und die Software zur Analyse von Funktionen ermöglichen es dem Benutzer, ein tiefgreifendes Verständnis der Waferoberfläche zu erlangen, wodurch er geeignete Maßnahmen ergreifen kann, um die Genauigkeit seiner messtechnischen Vorgänge sicherzustellen.