Gebraucht KLA / TENCOR / PROMETRIX UV 1080 #9285228 zu verkaufen

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KLA / TENCOR / PROMETRIX UV 1080
Verkauft
ID: 9285228
Thin film measurement system.
KLA/TENCOR/PROMETRIX UV 1080 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die zur Analyse und Gewinnung detaillierter Informationen aus einem Wafer verwendet wird, einschließlich seiner elektrischen Eigenschaften, Oberflächenstruktur und Defekte. Es verfügt über ein modernes optisches System, bestehend aus einem Mikroskopobjektiv, diffraktiven Linsen und Lasern, die eine hochauflösende Bildgebung für eine Vielzahl von Wafermaterialien ermöglichen. Damit eignet sich das Gerät ideal zur Detektion und Charakterisierung von Strukturfehlern, Partikeln und anderen Bedenkenquellen sowie zur Durchführung von Messungen wie Dicke, Ätztiefe und Oberflächentopographie. Die Maschine verfügt auch über ein fortschrittliches Bewegungswerkzeug, bestehend aus einer Präzisions-Wafer-Bühne, linearen und rotierenden Motoren und Encodern. Dies ermöglicht eine präzise Waferausrichtung, so dass das Asset mehrere Standorte auf einem einzelnen Wafer mit unglaublicher Wiederholbarkeit messen kann. Das Modell ist vielseitig genug, um eine Vielzahl von Probengrößen zu unterstützen, von kleinen Stempeln bis hin zu ganzen Wafern, und reist bis zu 400 my für Wafer Färbung und Kartierung. Außerdem, KLA UV 1080 Eigenschaften schnelllaufende, feldbewiesene Bildverarbeitungsfähigkeiten, die auf der fortgeschrittenen Beleuchtung und dem Algorithmus gestützt sind. Auf diese Weise kann das Gerät Fehler über eine Vielzahl von Fehlertypen und -größen hinweg genau erkennen und charakterisieren, was eine schnelle Prozedurabwicklung und eingehende Analyse ermöglicht. TENCOR UV-1080 wurde entwickelt, um genaue Ergebnisse zu gewährleisten und die Testzeiten insgesamt zu reduzieren. Es verfügt über eine breite Palette von Systemkomponenten, die alle konfiguriert und aktualisiert werden können, um sich ständig entwickelnden messtechnischen Anforderungen anzupassen. Dies macht es zu einer idealen Wafer-Test- und Messtechnik-Einheit für eine Vielzahl von Anwendungen, einschließlich Prozesskontrolle, Ertragsüberwachung und Fehleranalyse.
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