Gebraucht KLA / TENCOR / PROMETRIX UV 1250SE #9095212 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9095212
Wafergröße: 4" - 8"
Film thickness measurement system, 4" - 8" configurable
Cassette to cassette
Pattern recognition
3.5" Floppy
Jazz drive
Software: Summit Version 2.62.06
Computer: Micron SE440BX2 PIII 550mhz.
KLA/TENCOR/PROMETRIX UV 1250SE (1250SE) ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die speziell für Halbleiterhersteller entwickelt wurde. Es ist ein hocheffizientes und fortschrittliches System, das schnelle Wafer-Anpassung bieten kann, so dass es ein wertvolles Werkzeug für Branchen, die hohe Leistung und Genauigkeit erfordern. Das 1250SE ist eine hochmodulare und anpassbare Wafer-Testeinheit. Die automatisierte Prüf- und Messtechnik-Maschine wurde entwickelt, um die Zuverlässigkeit und den Durchsatz von Wafertests zu revolutionieren. Das Tool ist eine schrittweise Änderung der Waferleistung und misst eine breite Palette von Parametern, so dass eine Fülle von Informationen genau und schnell sortiert und verarbeitet werden kann. Das 1250SE ist darauf ausgelegt, durch die Optimierung von Messparametern eine Vielzahl von Fehlern zu erkennen. Das Asset ermöglicht es Benutzern, jeden Test an das gewünschte Ergebnis anzupassen und Fehler wie Fremdstoffe, Kontaminanten, Linientopologie, Ebenheit und mehr zu identifizieren. Das 1250SE nutzt ein fortschrittliches Modell der Partikeloptik, mit dem Benutzer Fehler- und Verzerrungsmuster auf vielfältige Weise analysieren können. Dies macht die Ausrüstung einzigartig für viele andere Modelle, da sie eine erhöhte Anzahl von Messungen in der gleichen Zeit ermöglicht. Die 1250SE ermöglicht auch die aktuelle Analyse anspruchsvoller Probleme, die bei gängigen Wafertechnologien auftreten können. Das System kann Paticle-Schmutz, Dünnschichtriss, Beulen und dielektrische Oberflächenfehler gleichzeitig erkennen. Dies ist durch die Kombination von Auto-Korrektur- und Analyse-Algorithmen möglich. Diese Algorithmen bieten Anwendern eine hohe Genauigkeit der Messergebnisse. Darüber hinaus ist das 1250SE mit einer zweistufigen Präzisionsstufe und verbesserter Halbleiterbildtechnik ausgestattet. Diese Kombination von Funktionen bietet hervorragende Bildaufnahmefunktionen, um das Scannen von 2D, 3D, QFN, Multi-Layer und CSP zu erleichtern. Die zweistufige Präzisionsstufe erleichtert zudem die hochauflösende Inspektion der gesamten Matrize und ermöglicht die Analyse nicht flacher Merkmale. Das 1250SE ist eine ideale Wahl für Halbleiterhersteller, die zuverlässige, genaue und zeitnahe Messungen benötigen. Die leistungsstarke Optik-Engine des Geräts, High-End-Bildgebungsfunktionen, erweiterte Testalgorithmen und Dual-Staged-Präzisionsstufe machen es zu einer idealen Wahl für jede Wafer-Testanwendung. Ob kleine Fehler oder großflächige Funktionen, der 1250SE liefert dem Anwender in wenigen Minuten zuverlässige Ergebnisse.
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