Gebraucht KLA / TENCOR / PROMETRIX UV 1250SE #9161753 zu verkaufen

KLA/TENCOR/PROMETRIX UV 1250SE ist eine hochmoderne Wafer-Prüf- und Messtechnik für die Halbleiterindustrie. Seine erweiterten Fähigkeiten umfassen Präzisionsmessung der physikalischen Eigenschaften, Fehleranalyse, Filmdickenmessung und Fehlerlokalisierung. KLA UV-1250SE ist mit einer leistungsstarken ultravioletten Laserquelle ausgestattet, die eine genaue Messung von strukturierten Schichten mit hoher Dichte sowie kleineren Schichten und Eigenschaften ermöglicht. Es kann auch die Korngrößenverteilung im Material sowie andere physikalische Eigenschaften messen. Laser-Interferometrie bietet präzise Höhe, Neigung und Figurmessung einer Vielzahl von Oberflächenmaterialien. TENCOR UV 1250 SE bietet auch zusätzliche Funktionen wie automatisierte Fehlerüberprüfung und SPC (Statistical Process Controls). Das System wurde entwickelt, um Fehler in Wafern zu erkennen und zu quantifizieren, und seine Fehlerflächenbilder werden in nur Sekunden erzeugt. Die Fehlerlokalisierungsfunktionen ermöglichen es Benutzern, den Standort und die Größe jedes Fehlers zu ermitteln. Das Gerät nutzt die modernsten Messtechnik-und Bildgebungssysteme für höchste Auflösung Bildgebung. Die Positionsgenauigkeit des Nanometers ist mit höchster Vergrößerung und Genauigkeit verfügbar. Die Maschine verfügt auch über ein Dual-Port-Scanwerkzeug, das Messungen an mehreren Punkten innerhalb einer einzelnen Fläche ermöglicht. Zur Automatisierung und Optimierung bietet PROMETRIX UV 1250SE eine umfassende Skriptsprache sowie eine erweiterte Benutzeroberfläche. Dies ermöglicht die Automatisierung komplexer Prozesse und die Anpassung von Benutzerfunktionen. Das Asset bietet auch eine breite Palette von Datenausgabeoptionen und Datenspeicherfunktionen. UV-1250SE ist eine ideale Wahl für Halbleiterhersteller, die außergewöhnliche Leistung sowie langfristige Zuverlässigkeit bieten. Die außergewöhnliche Präzision und die umfassenden Eigenschaften des Modells machen es zu einer idealen Wahl für eine Vielzahl von Anwendungen in der Waferinspektion und Messtechnik.