Gebraucht KLA / TENCOR Puma 9000 #9240145 zu verkaufen
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ID: 9240145
Weinlese: 2006
Darkfield inspection system
Module: User interface
Missing parts:
PC
(2) Boards
2006 vintage.
KLA/TENCOR Puma 9000 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die eine hohe Genauigkeit bei der Prüfung und Analyse von Halbleiterscheiben gewährleistet. Es ist ein vollautomatisches System, das die besten in Design, Technologie und Leistung für maximale Effizienz und Genauigkeit kombiniert. Das Gerät bietet hochpräzise Tests, Mapping und Messungen, mit denen die Leistung der integrierten Schaltungen und die Konnektivität optimiert werden können. KLA Puma 9000 verfügt über eine hochpräzise Prüfkammer mit einer spezialisierten optischen Maschine, einschließlich eines großen Sichtfeldes, die eine einheitliche Abbildung von Wafern für konsistente Ergebnisse ermöglicht. Es bietet eine stabile Umgebung für die Messung kleiner Funktionen und ist auch mit einem tief gelernten Algorithmus integriert, der hilft, eine genaue Fehlererkennung und -diagnose sicherzustellen. Darüber hinaus enthält TENCOR Puma 9000 eine patentierte Lösung für die Bildnähte, mit der mehrere Bilder desselben Wafers elektronisch zu einem zusammengesetzten Bild zusammengefasst werden können. Diese integrierte Bildgebungstechnik verbessert die Genauigkeit der Bildanalyse drastisch, da die hochpräzisen Messungen aus dem Vollbild des Wafers entnommen werden. Darüber hinaus beinhaltet Puma 9000 immer leistungsfähigere Pixelzählsoftware, die in der Lage ist, Pixel, wiederholbare Zeilenscans und andere Funktionen von Geräten zu zählen, sogar so klein wie 5 Mikrometer. Es kann Merkmale so klein wie 0,3 Mikron erkennen, und auch Muster erkennen. Dadurch wird sichergestellt, dass Geräte genau analysiert werden und erweiterte Messungen möglich sind, die in der Halbleiterproduktion kritisch sind. Zusammenfassend ist KLA/TENCOR Puma 9000 ein modernes Wafertest- und Metrologiewerkzeug, das Präzision und Genauigkeit beim Testen und Analysieren von Halbleiterscheiben bietet. Itd-Funktionen umfassen eine hochpräzise Prüfkammer, integrierten Tiefenalgorithmus und Bildnahttechnologie und Pixelzählsoftware, mit Funktionen, die Funktionen so klein wie 0,3 Mikron zu erkennen. Die Anlage ist ideal für maximale Effizienz und Genauigkeit, um die Leistung von integrierten Schaltungen und Konnektivität zu optimieren.
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