Gebraucht KLA / TENCOR Quantox XP #9252245 zu verkaufen

KLA/TENCOR Quantox XP ist eine komplexe Wafer-Prüf- und Messtechnik, die mehrere optische, bildgebende und Mustererkennungstechnologien kombiniert. Dieses System ermöglicht die Halbleiteranalyse der Zusammensetzung, Geometrie, Defektkomplexität und mehr. Es wurde entwickelt, um Hochgeschwindigkeits-automatische Wafer-Inspektion mit weniger Ausfallzeiten für Wartung und erhöhten Durchsatz zu liefern. KLA Quantox XP ist für den Einsatz in Produktionsprozessen konzipiert und soll mit Hochleistungskonstruktion halten. Es beinhaltet die UCK-proprietäre „Laser Interferometry“ -Technologie zur Messung feiner Wafer-Topographien, wie z.B. Stufenhöhen. Das Gerät verfügt auch über eine Reihe von Software-Tools, um hervorragende Features-Erkennungsfunktionen bereitzustellen. Es misst die Größe, Form, Ausrichtung und Fehlerverhalten jedes Merkmals, mit einer Genauigkeit von 0,5 Mikron. Darüber hinaus verfügt die Maschine über ein TOF-Mikroskop und ein in derselben Plattform eingebettetes SIMS-Tiefenprofilierungswerkzeug. Erstere ermöglicht es Anwendern, die 3D-Topographie der Wafer mit einer seitlichen Auflösung von 0,5 Mikron zu überprüfen und zu analysieren. Auf der anderen Seite bietet die SIMS-Tiefenprofilerstellung einen detaillierten Blick auf die Art und Menge der im Wafer vorhandenen Fehler. Es misst die Tiefe jedes Fehlers und hilft, eine Vielzahl von Fehlern zu identifizieren. Darüber hinaus ist TENCOR Quantox XP mit „MultiSpectral Imaging“ -Technologie zur Abbildung von Waferoberflächen ausgestattet, die bei der fortschrittlichen Fehlercharakterisierung und -analyse hilft. Darüber hinaus verfügt dieses Modell über ein großes 100-mm-Scanfeld, mit dem Benutzer die volle Waferoberfläche in einem Schuss erfassen können. Es verfügt auch über Software für fortschrittliche Algorithmen wie Bake Cancel, Multi-Scale-Analyse und Fourier Transform-Analyse für eine genauere Fehleranalyse. Quantox XP ist eine effiziente, zuverlässige und kostengünstige Prüf- und Messtechnik für blaue Wafer. Es liefert genaue und präzise Messungen selbst der komplexesten Wafer Topographien, mit einer beeindruckenden Auflösung. Die einfach zu bedienende Software-Suite bietet eine intuitive Benutzeroberfläche und leistungsstarke automatisierte Analysefunktionen. Darüber hinaus sorgt die geschlossene Automatisierung für hohe Produktivität und Wiederholbarkeit und ist damit das perfekte System für jede industrielle Waferanwendung.