Gebraucht KLA / TENCOR SFS 7200 #9200112 zu verkaufen

KLA/TENCOR SFS 7200 ist eine Präzisions-Wafer-Prüf- und Messtechnik, die eine Reihe fortschrittlicher Wafer-Prüf- und Messtechnologien beinhaltet. Dieses System liefert genaue und präzise Messungen auf einer Vielzahl von Halbleiterscheibentypen. Das Design nutzt Musteridentifikation, Wärmebildgebung und hochauflösende automatisierte optische Inspektion und Bildanalyse, um umfangreiche Stempeldaten von Chips auf einer Waferoberfläche genau zu messen. KLA SFS 7200 bietet einen leistungsstarken Satz von Fähigkeiten, die für die Bewertung fortschrittlicher Halbleiterleistungseigenschaften erforderlich sind. Seine Wafer-Sondentechnologie wird von einer fortschrittlichen Inspektionseinheit unterstützt, die eine Vielzahl von elektrischen Eigenschaften, wie Stromleckage und Widerstand messen kann. Die Reihe von Leistungsmerkmalen und messtechnischen Funktionen umfasst Grenzspannungsmessungen, automatisierte Fotoerkennung, Kontakterkennung und Flachheitsmessungen. TENCOR SFS7200 ist in der Lage, mehrere Wafersubstrate zu handhaben, einschließlich Flachbildschirm, Silizium-on-Saphir, Silizium-on-Carbid, Silizium-on-Isolator, optische und metallisierte Wafer. Die fortschrittlichen Bildverarbeitungssysteme lokalisieren präzise Formfunktionen wie Aussparungen, Schritte, Löcher, Gruben, Höcker, Kanäle und andere Funktionen auf einem geprüften Wafer. KLA/TENCOR- SFS7200 können Materialtyp, Geometrie und elektrische Eigenschaften der Matrize auf der Oberfläche erkennen und bietet eine automatisierte Datenanalyse an, um einen detaillierten Bericht über die Testergebnisse bereitzustellen. Diese Maschine ermöglicht es Ingenieuren auch, benutzerdefinierte Testroutinen zu erstellen und die Ergebnisse modernster Geräte zu analysieren, so dass sie Fehler schnell erkennen und ihren Prozess optimieren können. SFS7200 kann verwendet werden, um zahlreiche Materialien zu überprüfen, einschließlich Kupfer, Aluminium, Stahl, Polysilizium, polykristalline, Verbindung und Galliumarsenid-Wafer. Dieses Werkzeug enthält auch integrierte Steuerungssysteme, um die optische Achse für die Betrachtung der Waferoberfläche genau einzustellen. Mit diesen Funktionen kann TENCOR SFS 7200 die Kriterien für die fortschrittliche Prozessleistung überprüfen. Insgesamt ist KLA SFS7200 eine äußerst zuverlässige und präzise Waafer-Test- und Metrologie-Komponente mit einer Reihe von Sensorfunktionen. Es ist ein effektives Werkzeug für die Messung, Diagnose und Charakterisierung komplexer Halbleitermatrizen, so dass Ingenieure ihre Prozesse rationalisieren und die qualitativ hochwertigsten Teile liefern können.