Gebraucht KLA / TENCOR SFS 7600 #9167258 zu verkaufen

KLA / TENCOR SFS 7600
ID: 9167258
Wafergröße: 8"
Patterned wafer inspection system, 8" Missing parts.
KLA/TENCOR SFS 7600 ist eine führende Messtechnik und Wafer-Prüfanlage, die in der Halbleiterindustrie eingesetzt wird. Es bietet im Vergleich zum Vorgänger, dem SFS 6000, verbesserte Leistung und Funktionen. Das System kombiniert eine aufgabenoptimierte, Hochgeschwindigkeits-Messtechnik mit automatisierten Wafer-Prüf- und Handhabungssystemen und bietet eine umfassende Plattform, die den anspruchsvollsten Halbleitermärkten gerecht wird. Zu den Hauptmerkmalen gehören hochempfindliche Messfähigkeiten, ein hoher Durchsatz an Wafertests und eine beispiellose Automatisierung. KLA SFS 7600 verfügt über eine innovative optische Hochdynamikmaschine Optex mit großer chromatischer Aberrationskorrektur (LAC) -Technologie. Die Kompatibilität des Werkzeugs mit mehreren Licht- und Messeinstellungen ermöglicht eine breite Palette fortschrittlicher Tests, von Atomwaage bis Mikroskala. Diese automatisierte Wafer-Testanlage bietet umfassende Charakterisierungen mehrerer Schichten auf einem einzigen Wafer, erweiterte Analyse von Elektronen-, Ionen-, Geräte- und optischen Eigenschaften. Die präzise messtechnische Leistung des TENCOR- SFS7600-Modells ermöglicht eine genaue Echtzeit-Überwachung von Waferoberflächenfehlern, Ertragsmanagement und verbesserte Ertragsoptimierung. Es bietet zusätzliche Funktionen für berührungslose und Scanmodus-Messungen mit erweiterten Algorithmen für Kanten- und Kristallcharakterisierungen. Die fortschrittlichen Algorithmen der Geräte erlauben auch eine präzise Messung von Source/Drain und anderen kritischen geometrischen Eigenschaften für die Prozesssteuerung. Darüber hinaus bietet KLA/TENCOR SFS7600 auch flexibleren Zugriff auf die Verwaltung lokaler Datenbanken. Es bietet eine offene, benutzerfreundliche Umgebung, um Benutzern die Möglichkeit zu geben, das System an ihre spezifischen Anforderungen anzupassen. Es bietet automatisierte Wafer-Testfunktionen, um effektive Wafer-Tests und -Analysen vom Labor bis zur Produktionsfläche durchzuführen. Das Gerät verfügt über einen integrierten Roboterlader und Entlader, der bis zu 6 Wafer gleichzeitig handhaben kann, was zu mehr Effizienz bei der Arbeit mit mehreren Wafern führt. KLA SFS7600 kommt auch mit einer Vielzahl von Software-Lösungen entwickelt, um die Produktivität und Genauigkeit der Benutzer zu maximieren. Zu den Hauptmerkmalen gehören erweiterte Echtzeit-Fehlererkennung, Ermittlungs-Toolkit, automatisierte Waferdickel-Zuordnung und ein umfassendes Statistik-Reporting-Tool. Damit ist SFS7600 eine ideale Wahl für Wafertests und Messtechnik in der Halbleiterindustrie.
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