Gebraucht KLA / TENCOR SFS 7700 #170115 zu verkaufen

KLA / TENCOR SFS 7700
ID: 170115
Surface scanner.
KLA/TENCOR SFS 7700 ist eine integrierte Wafer-Prüf- und Messtechnik für die Halbleiterherstellung. Das System besteht aus einer Reihe von Produkten, darunter optische und elektrische Messwerkzeuge, fortschrittliche Software und Konfigurationen für eine Vielzahl von kundenspezifischen Anwendungen. Der optische Teil der Einheit umfasst ein SEM (Scanning Electron Microscope) zur Bildgebung und Oberflächenuntersuchung, ein optisches Inspektionsmikroskop zur Aufnahme von Röntgen- oder Ultraviolettbildern sowie eine Wafer-Kartierungsmaschine zur Abbildung und Abbildung von Fehlerkarten von Waferproben. Der elektrische Teil des KLA SFS 7700 besteht aus Kontaktsonden, Buckwandlern und Stromquellen, um elektrische Parameter über mehrere Geräte bei unterschiedlichen Spannungen und Temperaturen zu messen. Diese elektrischen Messungen ermöglichen es Benutzern, Spannung, Widerstand, Strom, Kapazität und ähnliche Parameter zu messen, um die Leistung von Halbleiterbauelementen und -bauelementen zu beurteilen. Die anspruchsvolle Software-Suite von TENCOR SFS 7700 soll Benutzern helfen, die von diesen Instrumenten gesammelten Daten zu berechnen, zu speichern und zu analysieren. Diese Software wird in der Lage sein, Wafer-Defekte zu lokalisieren, zu identifizieren und zu melden sowie Wafer-Produktion und Ertragsinformationen zu verfolgen. Darüber hinaus können Benutzer ihre eigenen benutzerdefinierten Makrobefehle konfigurieren, um Datenverwaltungsaufgaben zu vereinfachen. SFS 7700 kann auch für spezifische Aufgaben wie Wafer-Fehlerbewertung, Prozessüberwachung, Ertragsanalyse und Datenberichterstattung konfiguriert werden. Es bietet Anwendern eine Vielzahl von Funktionen wie automatisiertes Front-End-Defekt-Mapping, automatisierte Fehlersuche und -diagnose, benutzerfreundliche grafische Benutzeroberfläche sowie Unterstützung für Rückverfolgbarkeit und Rückverfolgbarkeit. Insgesamt ist KLA/TENCOR SFS 7700 ein leistungsfähiges und umfassendes Wafertest- und Messtechnikwerkzeug. Es ist in der Lage, hochraffinierte und genaue Messungen von Halbleiterbauelementen und -bauelementen bereitzustellen, um die höchste Qualität des Produktes sicherzustellen, das dem Verbraucher zur Verfügung steht.
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