Gebraucht KLA / TENCOR SFS 7700 #9134040 zu verkaufen

KLA/TENCOR SFS 7700 ist eine hochpräzise Wafer-Prüf- und Messtechnik, die unübertroffene Genauigkeit, Geschwindigkeit und Zuverlässigkeit bietet, um konsistente Wafer-Level-Ergebnisse für die fortschrittliche Gerätecharakterisierung zu erzielen. Die Fähigkeit der KLA SFS 7700, eine Vielzahl von Parametern auf Dünnschicht- und Dickschichtwafern an einer einzigen Teststation zu messen, führt zu einem erhöhten Durchsatz und verbesserten Produktionserträgen. TENCOR SFS 7700 wird durch proprietäre, eng integrierte Softwarepakete angetrieben, die speziell für Wafertests und messtechnische Anwendungen entwickelt wurden. Die erweiterten Waferanalyse- und Ertragsverbesserungsfunktionen der fortschrittlichen Softwaremodule ermöglichen es Anwendern, selbst kleine Variationen der Waferleistung und -zuverlässigkeit schnell zu identifizieren und Produktionsprozesse zu optimieren, um die Vorteile der Daten zu nutzen. Die Fähigkeit von SFS 7700, eine Vielzahl von Waferparametern in situ genau zu messen, ermöglicht es Benutzern, präzise Wafer- und Gerätestufendaten mit höherem Durchsatz, niedriger Kostengenauigkeit und verbessertem Durchsatz als andere Test- und Messsysteme schnell zu erfassen. Mit dem fortschrittlichen System Automated Inspection Management (AIM) haben Anwender die Möglichkeit, bis zu 10 Rezepte für einfachen Rückruf und automatisierten Betrieb zu erstellen und automatisch zu speichern. KLA/TENCOR SFS 7700 bietet bahnbrechende Leistung zu einem wettbewerbsfähigen Preis mit unkomplizierter, intuitiver Bedienung für schnelleres Anfahren mit wiederholbaren Ergebnissen. Die Rasterelektronenmikroskopeinheit bietet Anwendern eine breite Palette automatisierter Funktionen für einen einfach zu bedienenden, schlüsselfertigen Betrieb. Darüber hinaus bietet die Maschine eine konfigurierbare, klassenführende Konturanalyse-Funktion, die die Möglichkeit bietet, nanoskalige Funktionen mit einer Genauigkeit von 5 nm zu messen. KLA SFS 7700 definiert die Industriestandards für Wafertests und Messtechnik mit seiner gestärkten und integrierten Infrastruktur neu und bietet Anwendern ein beispielloses Maß an Kontrolle, Flexibilität und Genauigkeit. Mit verbesserter Datenerfassung, Unterstützung für mehr Parallelität, verbesserter Planungsoptimierung und mehr haben Benutzer jetzt die Möglichkeit, die Ursache eines Problems mit Genauigkeit zu ermitteln.