Gebraucht KLA / TENCOR SFS 7700 #9285219 zu verkaufen

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KLA / TENCOR SFS 7700
Verkauft
ID: 9285219
Surface scanner.
KLA/TENCOR SFS 7700 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die automatisierte Prüf- und Sondierungstechnik verwendet und schnelle, zuverlässige und wiederholbare Ergebnisse liefert. Dieses System wurde entwickelt, um den Anforderungen der heutigen Halbleiterindustrie gerecht zu werden und ist in der Lage, eine Vielzahl von Parametern zu testen, einschließlich Fehlergröße und Chipausbeute. Es bietet überlegene Genauigkeit und kann auch kleinste Mängel erkennen. KLA SFS 7700 bietet Auflösung bis zu 0,2 μ m für die Fehlererkennung. Diese Wafer-Test- und Metrologie-Einheit verwendet die neueste Scantechnologie, fortschrittliche Algorithmen und Wafer-Imaging, um zuverlässige Ergebnisse zu gewährleisten. Die Maschine kann bis zu 6 ″ Wafer handhaben und eine Vielzahl von Parametern wie Dünnschichtdicke, Topographie und Oberflächenstruktur, Beschichtungsdicke und Haftung sowie Photoleitfähigkeit testen. Das Tool bietet auch optionale Erweiterungen, die für zusätzliche messtechnische Messungen verwendet werden können. TENCOR SFS 7700 verfügt über integrierte Test- und Kalibrierungsfunktionen sowie eine Bibliothek mit Kalibrierkurven zur Überwachung von Änderungen der Performance des Asset. Es enthält auch eine automatisierte Probenauswertungsfunktion, die Messungen an mehreren Proben in einer einzigen Testsitzung ermöglicht. Die Software des Modells soll nahtlos in andere UCK-Messtechnik-Systeme integriert werden. Dies ermöglicht einen einfachen Datenaustausch und bietet Kunden die Möglichkeit, ihre Daten schnell und genau zu analysieren. Darüber hinaus ermöglicht die intuitive Benutzeroberfläche des SFS 7700 dem Bediener, Testparameter schnell einzurichten und Ergebnisse zu überwachen. Sicherheit und Zuverlässigkeit sind für Wafer-Prüf- und Messtechnik-Anwendungen unerlässlich, und KLA/TENCOR SFS 7700 setzt eine Reihe von Sicherheitsmaßnahmen ein, um höchste Genauigkeit zu gewährleisten. Es ist mit mehreren Nothaltepunkten und einer Reihe von Schutzmerkmalen ausgestattet, wie die Fähigkeit, überhitzte Komponenten zu erkennen und sofort abzuschalten. Insgesamt ist KLA SFS 7700 eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die zuverlässige und wiederholbare Ergebnisse liefert. Es enthält eine Reihe von Funktionen, um zuverlässige Leistung und Sicherheit zu gewährleisten, und die intuitive Benutzeroberfläche macht es einfach, Tests einzurichten und zu überwachen. Durch die Kombination von intuitiver Software und fortschrittlicher Inspektions- und Sondierungstechnologie sorgt TENCOR SFS 7700 für genaue und zuverlässige Ergebnisse für eine Vielzahl von Halbleiteranwendungen.
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