Gebraucht KLA / TENCOR SFS 7700 #9390450 zu verkaufen

KLA/TENCOR SFS 7700 ist eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik, die entwickelt wurde, um die elektrischen Eigenschaften von Halbleiterscheiben zu betrachten, zu überwachen, zu testen und zu messen. Es zeichnet sich durch hohen Durchsatz, Genauigkeit, Empfindlichkeit und Zuverlässigkeit aus und ist mit hochentwickelten Software- und Hardwarekomponenten ausgestattet, die es ermöglichen, präzise Messungen durchzuführen, die den Anforderungen der großen Halbleiterhersteller entsprechen. KLA SFS 7700 verfügt über eine zweidimensionale Anordnung von Sensoren, integriert in einen dynamisch stabilisierten Bewegungstisch, der präzise über die gesamte Waferoberfläche scannen kann. Das Gerät ist mit einer automatisierten Fokussieroptik für strukturiertes Licht ausgestattet, die es ermöglicht, ultrahochauflösende Bilder zu erfassen, so dass es elektrische Eigenschaften bis zum Nanometer-Grad der Genauigkeit messen kann. Darüber hinaus bietet der integrierte Imaging Processing Core (IPC) eine Echtzeit-Verarbeitung und -Analyse, die eine schnelle Messung und Rückmeldung ermöglicht. Eines der beeindruckendsten Merkmale von TENCOR SFS 7700 ist sein Software Manager, der es dem System ermöglicht, sich automatisch für verschiedene Kundenanforderungen und Anwendungen zu konfigurieren. Der Software Manager kann die Art der Wafer, die das Gerät analysiert, leicht erkennen und die Einstellungen und Parameter der Maschine sofort anpassen, um sicherzustellen, dass die genauesten Messungen erfasst werden. Die Kombination aus fortschrittlicher Optik, Sensoren und ausgefeilter Software ermöglicht es SFS 7700, Herstellern extrem detaillierte Messungen anzubieten, die für die anspruchsvollen Produktionsanforderungen von Halbleiterbauelementen unerlässlich sind. Das Tool bietet anspruchsvolle Datenerfassungs-, Analyse- und Visualisierungsoptionen, und seine intuitive Benutzeroberfläche macht es einfach zu bedienen und zu bedienen. Der zweiachsige motorisierte Drehteller erhöht unterdessen sowohl die Effizienz als auch die Genauigkeit, sodass das Gerät schnell scannen und eine detaillierte Analyse mehrerer Wafer in schneller Folge bereitstellen kann, während sein erweiterbarer Speicher und seine umfangreichen Eingabe-/Ausgabeoptionen ihm die Flexibilität bieten, praktisch jedes Design unterzubringen. Kurz gesagt, KLA/TENCOR SFS 7700 ist eine hochentwickelte Wafer-Test- und Messtechnik-Anlage, die selbst die strengsten Anforderungen der Halbleiterhersteller erfüllen kann. Die Kombination aus modernsten Hardware- und Softwarekomponenten in Kombination mit seinem einzigartigen Software-Manager bietet ein unübertroffenes Maß an Genauigkeit, Effizienz und Zuverlässigkeit und ist die perfekte Wahl für diejenigen, die die elektrischen Eigenschaften von Halbleiterscheiben genau messen möchten.