Gebraucht KLA / TENCOR Spectra FX 200 #9205856 zu verkaufen

KLA/TENCOR Spectra FX 200 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die zur Messung von Polarisation, Spektralgehalt und optischer Qualität von Wafermaterialien entwickelt wurde. Dieses System bietet eine vielseitige Lösung für eine breite Palette von Anwendungen, von der Qualitätskontrolle und dem Hochdurchsatz-Screening von Wafern bis zur Bestimmung der optischen Eigenschaften von Beschichtungen auf gekrümmten Oberflächen. Das Gerät ist modular aufgebaut, sodass Benutzer es an ihre individuellen Anforderungen anpassen können. Die Maschine kann bis zu 50 Tests pro Sekunde durchführen und ist mit Software zur Datenerfassung und -analyse ausgestattet. Seine fortschrittlichen bildgebenden und optischen Komponenten ermöglichen es Benutzern, die gesamte Waferoberfläche in einem Bild zu erfassen und vollständige spektrale Informationen zu erhalten. KLA Spectra FX 200 ist mit einer Reihe von Konfigurationsoptionen erhältlich, die auf eine Vielzahl von Leistungsspezifikationen zugeschnitten werden können. Es ist mit einem 8 "-Winkelwandadapter, einem Spektrometermodul, zwei verschiedenen Polarisationsplatten, einem Ausrichtarm mit XYZ-Positionierer, Softwaremodulen und einer vollen XYZ-Drehstufe ausgestattet. Die Beleuchtungs-/Optikbrücke ermöglicht die Anpassung der Lichtquelle, so dass Benutzer die Helligkeit, den Kontrast, die Farbigkeit und die Farbtönung des Bildes anpassen und manipulieren können. Darüber hinaus verfügt sein optischer Tisch über eine Luftlagerbasis für eine reibungslose und präzise Übersetzung der XYZ-Bühne, während seine Touchscreen-Schnittstelle die volle Kontrolle über das Werkzeug bietet, um genaue Ergebnisse zu gewährleisten. TENCOR Spectra FX 200 umfasst auch erweiterte Berichts- und Analysefunktionen. Die Software ist in der Lage, Fehler mit Hochkontrast- und Tiefpassfiltern zu identifizieren, während ihr Polarisationsmessmodul präzise Messungen der Doppelbrechung liefert. Sein Dark Field Imaging-Modul ermöglicht die Fernabbildung der Waferoberfläche von bis zu 1 m Entfernung, und seine eingebaute Spektralanalyse und Berichtsgenerierung kann verwendet werden, um optische Qualität und Defekte zu beurteilen. Mit einer so beeindruckenden Auswahl an Funktionen und Flexibilität ist Spectra FX 200 ein unverzichtbares Werkzeug für diejenigen, die eine präzise Wafer-Prüfung und Qualitätskontrolle benötigen.