Gebraucht KLA / TENCOR SpectraShape 8660 #293630250 zu verkaufen

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KLA / TENCOR SpectraShape 8660
Verkauft
ID: 293630250
Optical review system.
KLA/TENCOR SpectraShape 8660 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung zur Untersuchung von Wafern auf Defekte. Das System ist mit einem Interferometer ausgestattet, das sowohl hochauflösende berührungslose 2D- als auch 3D-Messungen liefert. Der Wafer ist auf einer verstellbaren 4-Achsen-Bühne für schnelle Navigation und präzise Positionierung montiert, so dass er Fehlergrößen, Konturprofile, Ebenheit und andere Parameter messen kann. Das Gerät ist in der Lage, bis zu 0,1 nm Wiederholbarkeit (so niedrig wie 0,02 nm) mit einer Vielzahl von verschiedenen Komponenten, einschließlich 6-Zoll (Standard) und 8-Zoll (Optionen) Wafer. KLA SpectraShape 8660 verfügt über eine Vielzahl von Vorteilsfunktionen, die zur Verbesserung der Ergebnisse und des Workflows beitragen. Dazu gehört eine automatische berührungslose 2D-Messmaschine mit berührungslosem Messtechnik-Werkzeug (NCM) zur Fehlerüberprüfung und -behebung. Das Asset bietet zudem eine Autofokus-Funktion für einen schnelleren und effizienteren Betrieb. Darüber hinaus ist die Plattform auch mit einem erweiterten One-Button-Defekt-Review-Modell ausgestattet, um verschiedene Fehler schnell zu identifizieren und zu beheben. Die umfassende Datenverwaltung erleichtert die Speicherung, Analyse und Archivierung aller Ergebnisse. Darüber hinaus ist das System mit einer flexiblen Testprotokoll-Entwicklungsoption ausgestattet, mit der Benutzer benutzerdefinierte Algorithmen erstellen können, um Tests zu führen. Bediener haben auch die Möglichkeit, die Daten in verschiedenen interaktiven 3D-Visualisierungen anzuzeigen und die Datenpräsentation anzupassen, um die Qualitätskontrolle zu unterstützen. TENCOR SpectraShape 8660 ist ein vielseitiges Werkzeug, das sowohl Zeit als auch Arbeit im Bereich der Wafertests und Messtechnik sparen kann. Seine Eigenschaften und Optionen bieten hochgenaue Messungen mit wiederholbaren Ergebnissen. Darüber hinaus können die integrierte Datenverwaltung und die Entwicklung von Testprotokollen dazu beitragen, den Betrieb zu vereinfachen, die Effizienz und Genauigkeit zu erhöhen und die Kosten zu senken.
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