Gebraucht KLA / TENCOR TF-2 #136452 zu verkaufen
URL erfolgreich kopiert!
Tippen Sie auf Zoom
ID: 136452
Wafergröße: 8"
Weinlese: 1994
Wafer defect inspection systems, 8", 1994 vintage.
KLA/TENCOR TF-2 ist ein fortschrittliches Wafertest- und Messtechniksystem für die Halbleiterindustrie. Es ist eine vollautomatische Lösung zur Inspektion, Messung und Analyse von Wafern mit hohem Potenzial, um qualitativ hochwertige Chips effizient zu liefern. KLA TF-2 verwendet fortschrittliche Erkennungs- und Bildgebungssysteme, um eine umfassende Palette von Inspektions-, Analyse- und Messtechnikwerkzeugen bereitzustellen. Das System nutzt hochauflösende optische Abtastung und Bildgebung, um abnorme Muster und Defekte auf Nanometerebene zu erkennen. Es verfügt auch über ein Time-of-Flight-Profilometer und Interferometer, um Hochtreue-Höhenprofile zu liefern, so dass es regelmäßige und unregelmäßige Topographie so klein wie 0,5 Nanometer erkennen kann. Inspektionsdaten werden in Echtzeit erfasst, analysiert und ausgewertet, was eine schnelle und genaue Prozesskontrolle ermöglicht. TENCOR TF-2 ermöglicht die automatisierte Erfassung und Analyse kritischer Kontaminations-, Qualitäts- und Ertragsdaten, wodurch Handhabungs- und Dateneingabefehler nahezu vermieden werden. Das System beinhaltet fortschrittliche Software zum Vergleich von Fehlern desselben Typs, zur umfassenden Merkmalserkennung, zur Kanten- und Profilmessung, zur Dehnungskartenüberlagerung und Einspülung sowie zur Spannungs- und Fehlerdichteschätzung. TF-2 verfügt auch über automatisierte Bin QC/QA, Batch-Control-Funktionen und Wafer-Level Abschlussprüfung. KLA/TENCOR TF-2 bietet erweiterte Funktionalität in einer einzigen Maschine und ist damit eine ziemlich komplette Lösung für industrielle und materielle Anwendungen. Es bietet relativ schnellere Inspektionszeiten, verbesserte Ausbeute und Prozesskontrolle, hervorragende Genauigkeit und Wiederholbarkeit und niedrigere Gesamtbetriebskosten. Seine Geschwindigkeit und Zuverlässigkeit machen es zu einer bevorzugten Wahl in ertragreichen Halbleiterherstellungsprozessen.
Es liegen noch keine Bewertungen vor