Gebraucht KLA / TENCOR / THERMA-WAVE Optiprobe 2600 #293671329 zu verkaufen

ID: 293671329
Film thickness measurement system.
KLA/TENCOR/THERMA-WAVE Optiprobe 2600 Wafer Testing and Metrology Equipment ist ein zuverlässiges, fortschrittliches Wafer-Prüf- und Messtechnik-System zur Überwachung und Prozesssteuerung des Halbleiterherstellungsprozesses. KLA Optiprobe 2600 ist mit einer fortschrittlichen optischen Bildgebungseinheit ausgestattet, die es ermöglicht, Wafer mit hoher Auflösung und Genauigkeit zu analysieren. Die fortschrittliche optische Bildgebungsmaschine verfügt über mehrere Methoden, wie Punktinspektion, Oberflächenbildgebung, Laser-Mapping und Partikelmessung, um Merkmalsgrößen, Schichtdicken und Oberflächenrauhigkeiten zu charakterisieren. Die von TENCOR Optiprobe 2600 erzeugte Waferkarte enthält eine zusammenfassende Ansicht verschiedener Eigenschaften des Wafers sowie verschiedene Anzeigen für die einzelnen Messungen jeder Einheit. Die Anzeige der Messergebnisse ermöglicht es Anwendern, Bereiche von Leistungsschwankungen zwischen verschiedenen Teilen des Wafers schnell zu identifizieren. Um die Qualität und Gleichmäßigkeit des Wafers weiter zu gewährleisten, enthält die THERMA-WAVE Optiprobe 2600 ein leistungsfähiges Datenanalyse-Softwarepaket. Diese Datenanalysesoftware bietet eine umfassende Palette von Tools zur Analyse von Waferkarten zur Erkennung von Anomalien, Kontaminationen und Prozessverschiebungen. Das Software-Paket unterstützt auch eine breite Palette von Dateiformaten, so dass Benutzer die Möglichkeit, einfach integrieren externe Prozesssteuerungsparameter und Analyse. Optiprobe 2600 ist auch kompatibel mit einer Reihe von Scanning Electron Microscopes (SEMs) für erweiterte Prozessüberwachung und -steuerung. Die Kombination von KLA/TENCOR/THERMA-WAVE Optiprobe 2600 mit SEMs kennt als SPM (Rastersondenmikroskopie) bietet die höchstauflösende Messung der Oberflächenstruktur im Halbleiterherstellungsprozess. Neben einer umfassenden Palette von Testanalysetools ist die KLA Optiprobe 2600 auch ein einfach zu bedienendes Werkzeug. Die grafische Benutzeroberfläche ist intuitiv und ermöglicht einen schnellen Zugriff auf die verschiedenen Messdisplays. Dies macht es Anwendern leicht, Produktionsanomalien schnell zu diagnostizieren und Korrekturmaßnahmen zu ergreifen. TENCOR Optiprobe 2600 ist eine zuverlässige, fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik, die es Halbleiterherstellern erleichtert, Produktionsprozesse zu überwachen und Produkte höchster Qualität sicherzustellen. THERMA-WAVE Optiprobe 2600 bietet mit seinem optischen Bildgebungsmodell, seinen Datenanalysefähigkeiten und seiner Kompatibilität mit SEMs eine effiziente Möglichkeit, den Waferherstellungsprozess zu überwachen.
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