Gebraucht KLA / TENCOR / THERMA-WAVE OPTIPROBE 2600B #9220003 zu verkaufen

KLA OptiProbe™ 2600B Wafer Testing and Metrology Equipment ist ein hochmodernes System zur fortschrittlichen Wafer-Charakterisierung und Fertigungsprüfung. Entwickelt für die Messung von Oberflächentopographie, Overlay und Qualitätsmessgrößen, kombiniert das OptiProbe™ 2600B leistungsstarke Optik, Bewegungssteuerung und thermische Technologien, um eine umfassende Plattform für effiziente Herstellungsprozesse zu schaffen. Die OptiProbe™ 2600B bietet eine optische 2D-profilierte Messtechnik mit kontextsensitiven Bildgebungsfunktionen. Es nutzt intuitive grafische Benutzeroberflächen (GUI) und eine Touchscreen-Oberfläche, um Anwendern zu ermöglichen, das Gerät schnell für verschiedene Aufgaben einzurichten und messtechnische Ergebnisse anzuzeigen. Die OptiProbe™ 2600B nutzt fortschrittliche On-Axis-Optik, um Messungen in Echtzeit schnell zu erfassen, was schnellere Wafertests ermöglicht. Darüber hinaus umfasst es patentierte TENCOR Thermo-Messtechnik-Sensortechnologien, die eine genaue Charakterisierung von Topographie-Metriken wie Planität, Oberflächenrauhigkeit und Kontaktwinkel ermöglichen. Das OptiProbe™ 2600B integriert insbesondere die von THERMA-WAVE renommierte Unified Overlay™-Fähigkeit, umfassende Overlay-Genauigkeits- und Wiederholbarkeitsmessungen zur Verfügung zu stellen und gleichzeitig die Auswirkungen thermischer Drift zu mindern. Die Maschine unterstützt auch hochmoderne Messtechnik-Plattformen und -Prozesse, einschließlich fortschrittlicher Fehlerinspektion und CD-Messtechnik. Aufgrund seiner fortschrittlichen Fähigkeiten ermöglicht die OptiProbe™ 2600B es Herstellern, die Effektivität ihrer Wafer-Prüf- und Fertigungsprozesse mit geringen Ausfallzeiten oder zusätzlichen Kosten zu entwerfen und zu überwachen. Zusammenfassend ist KLA/TENCOR/THERMA-WAVE OptiProbe™ 2600B Wafer Testing and Metrology Tool eine fortschrittliche und umfassende Plattform, die optische, Bewegungssteuerung und thermische Technologien für eine genaue Wafer-Charakterisierung und Fertigungsüberprüfung auf effiziente und kostengünstige Weise kombiniert. Von der intuitiven GUI und Touchscreen-Oberfläche bis hin zu den leistungsstarken Unified Overlay™-Funktionen ist die OptiProbe™ 2600B eine ideale Lösung für Hersteller, die ihre Wafer-Test- und Fertigungsprozesse maximieren möchten.