Gebraucht KLA / TENCOR / THERMA-WAVE OPTIPROBE 2600B #9220004 zu verkaufen

KLA/TENCOR/THERMA-WAVE OPTIPROBE 2600B ist eine fortschrittliche Wafer-Test- und Messtechnik-Ausrüstung, die für die fortschrittliche Fehleranalyse und Prozessüberwachung einer breiten Palette von Wafer-Level-Düsen-Level-Produkten entwickelt wurde. Dieses System ermöglicht die Entdeckung von Prozessanomalien durch die schnelle Abtastung von Tausenden von der Person sterben mit einem schnelllaufenden, hochauflösenden Bildaufbereitungslaser. KLA OPTIPROBE 2600B bietet eine Vielzahl von Funktionen, wie: mehrere Betrachtungswinkel, automatisierte elektrische Tests auf Stempelebene, automatisierte Normalisierung und mehrere interessante Regionen. Der Scanning-Laser auf TENCOR OPTIPROBE 2600B wurde entwickelt, um maximale Datentreue und Genauigkeit zu liefern und ist somit ein hochgenaues Werkzeug zur Erkennung von Defekten und Anomalien auf einem Wafer-Werkzeug. Dieses Gerät ist in der Lage, mit hohen Geschwindigkeiten bis zu 6000 Stempel/Stunde zu scannen und kann Prozessverluste erkennen und Empfehlungen für Korrekturmaßnahmen abgeben. Die mehrfachen Betrachtungswinkel ermöglichen es der Maschine, eine breite Palette von Orientierungen und Kurvenformen anzuzeigen, was eine zuverlässige und konsistente Prüfung ermöglicht. Der automatisierte Stanztest hilft, Zeit und Kosten im Zusammenhang mit manuellen Tests zu reduzieren. Darüber hinaus hilft die automatisierte Normalisierungsfunktion, verschiedene Formwerkzeuge aus verschiedenen Fertigungsprozessen schnell und genau zu vergleichen. Das Werkzeug verfügt über eine aktive Ausrichtung des bildgebenden Lasers, um eine maximale Datengenauigkeit zu gewährleisten. Dieses Asset verfügt zudem über ein intelligentes Inspektionsmodell und eine benutzerfreundliche Benutzeroberfläche, die eine umfassende Wafer-Layout-Programmierung und Echtzeit-Datenanalyse ermöglicht. OPTIPROBE 2600B ist in der Lage, Daten aus bis zu 16 Kanälen zu sammeln, was eine detailliertere Analyse des Verhaltens auf der Matrize ermöglicht. Die Geräte können auch einfach neu konfiguriert werden, um auf mehreren Ebenen zu scannen, was Flexibilität für Wafer-Level-Tests bietet. THERMA-WAVE OPTIPROBE 2600B ist für den Einsatz in der Backend-Prozessentwicklung, Zuverlässigkeitsprüfung, Fehleranalyse, Ertragsüberwachung und Prozesssteuerung konzipiert. Dieses System kann eine breite Palette von Düsenfehlern erkennen, wodurch fehlerhafte Düsen, redundante Chips, Prozessanomalien und mehr erkannt werden können. Diese fortschrittliche Wafer-Test- und Messtechnik-Einheit wurde entwickelt, um Hochgeschwindigkeits-genaue Ergebnisse zu liefern, so dass es ein ideales Werkzeug für die Prozessentwicklung und Überwachung von Wafer-Ebene sterben.