Gebraucht KLA / TENCOR / THERMA-WAVE Optiprobe 5340 #293814729 zu verkaufen

KLA/TENCOR/THERMA-WAVE Optiprobe 5340 ist eine hochmoderne Wafer-Prüf- und Messtechnik, die zur hochpräzisen und hochgenauen Charakterisierung verschiedener Wafertypen und -materialien verwendet wird. Der 5340 ist ein automatisiertes System, das Funktionen auf einer Vielzahl von Wafern auf Mikron- und Nanometerwaagen analysieren und messen kann. Die Einheit besteht aus einem optischen Mikroskop und einer computergesteuerten Probenstufe zur Durchführung einer Vielzahl automatisierter Analysen einschließlich optischer, elektrischer und chemischer Messungen. Das optische Mikroskop verfügt über eine große Objektivlinse, die eine ultrahochauflösende Bildgebung ermöglicht und die Inspektion kleinerer Merkmalsgrößen wie adressierbare Speicherzellen oder integrierte Schaltungen ermöglicht. Die computergesteuerte Probenstufe ermöglicht eine automatisierte Bewegung von Wafern und Messköpfen in allen drei Dimensionen und ermöglicht eine genaue und wiederholbare Analyse komplexer Geometrien auf Waferebene. Der 5340 ist mit einer Vielzahl von Detektoren ausgestattet, darunter eine CCD-Kamera und ein Spektrometer, die die Analyse von Oberflächenmerkmalen, Materialien und anderen wichtigen Eigenschaften ermöglichen. Die Maschine verfügt auch über eine Vielzahl von spezialisierten Softwareagenturen, die eine automatisierte Ausrichtung, Vernähung und Messung von Datendateien sowie andere Aufgaben ermöglichen. Darüber hinaus bietet das Tool eine Vielzahl von Integrations- und Schnittstellenoptionen, die eine Verbindung zu anderen Systemen ermöglichen und die gemeinsame Nutzung und Analyse von Daten mit externen Datenquellen ermöglichen. KLA Optiprobe 5340 bietet branchenführende Test- und Messtechnik-Leistung für eine breite Palette von Anwendungen, mit seinen fortschrittlichen Mechanismen, Präzision, Genauigkeit und Fähigkeit. Das Asset ermöglicht eine komplexe, automatisierte und wiederholbare Wafer-Level-Analyse von Nanometer- und Mikrometer-Funktionen. Das Modell ist ideal für entscheidende Wafer-Charakterisierungs- und Testanwendungen wie Halbleiterfehleranalyse, Prozessüberwachung und -steuerung, integrierte Schaltungstests und Fehlerlokalisierung.