Gebraucht KLA / TENCOR / THERMA-WAVE Optiprobe 5340 #9399017 zu verkaufen

KLA/TENCOR/THERMA-WAVE Optiprobe 5340 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die für hohe Genauigkeit, Durchsatz und Flexibilität ausgelegt ist. Das System bietet erstklassige Leistung für erweiterte Messtechnik und Fehlererkennungsanwendungen. Es ist in der Lage, eine automatisierte Wafer-zu-Wafer-Ausrichtung und berührungslose optische Großfeldbildgebung zu ermöglichen, die eine zerstörungsfreie Sicht auf die Oberfläche jedes Wafers bietet, um Fehler zu identifizieren, kritische Eigenschaften zu analysieren und zu messen. KLA Optiprobe 5340 ist mit einer fortschrittlichen Messtechnik-Stufe ausgestattet, die eine schnelle, präzise Waferausrichtung und hochpräzises Scannen ermöglicht. Die Einheit ermöglicht die Vorausrichtung mehrerer Substrate, so dass in kürzester Zeit eine Karte des gesamten Wafers erstellt werden kann. Die Maschine verfügt auch über eine Vielzahl von Test- und Messinstrumenten, einschließlich Lichtmikroskope, CCD-Kameras und Spektrographen, für den Einsatz in fortgeschrittenen Wafer Mapping und Analyse. Die optische Plattform von TENCOR Optiprobe 5340 bietet unübertroffene Leistung für die Bildgebung, Fehlererkennung und Abbildung. Die mehrfarbige Bildgebungstechnologie wird für die schnelle, genaue Wafer-Abbildung und die Charakterisierung von Merkmalen verwendet. Hochauflösende Filter und Mikroskope bieten eine bis zu 30fache Erhöhung der Auflösung im Vergleich zu herkömmlichen Systemen und ermöglichen eine detaillierte Inspektion und Analyse jedes Wafers. Das Tool verfügt außerdem über eine fortschrittliche thermische Inspektion, die eine schnelle, berührungslose Infrarot-Bildgebung ermöglicht. Eine Vielzahl von thermischen Sonden und Linsen können verwendet werden, um jeden Wafer zu inspizieren, was eine schnelle Fehlerlokalisierung und -analyse ermöglicht. Schließlich enthält das automatisierte Messtechnik-Modell von THERMA-WAVE Optiprobe 5340 eine Reihe von Software-Algorithmen für den Wafer-Vergleich und -Analyse. Ausgefeilte Algorithmen werden verwendet, um häufige Fehler in einem bestimmten Wafer schnell und genau zu identifizieren und können Bereiche mit verdächtigen Fehlern lokalisieren, die weitere Inspektionen erfordern können. Durch den Zugriff auf anspruchsvolle Fehleranalysealgorithmen eignet sich Optiprobe 5340 ideal für komplexe Mess- und Verifizierungsaufgaben.