Gebraucht KLA / TENCOR UV 1050 #293750635 zu verkaufen

KLA/TENCOR UV 1050 ist eine fortschrittliche Wafertest- und Messtechnik-Ausrüstung, die zur Erzielung präziser Messungen und Überwachung kritischer Halbleiterprozessparameter verwendet wird. Dieses System kombiniert schnell oszillierende Verschluss- und Laserausrichtungstechnologie mit automatisierten Sechs-Achsen-Stufen zur präzisen Makroregistrierung, wodurch eine fortschrittliche und vielseitige Einheit zur Fehlerinspektion und Überprüfung von Mehrfachwerkzeugstärken geschaffen wird. Merkmale wie fortschrittliches Die-to-Die-Tracking und schnelle berührungslose Messtechnik sorgen dafür, dass die Maschine Halbleiterprozessparameter mit unübertroffener Genauigkeit und Wiederholbarkeit messen kann. Das Werkzeug ist in der Lage, dreidimensionale Strukturen wie Transistoren, dielektrische Strukturen, Kupferleiterbahnen, Kontaktpads und tiefe Gräben unter Hochleistungs-Ultraviolettbeleuchtung zu überprüfen. KLA UV 1050 beinhaltet ein erweitertes optisches Asset, das eine 10K-Pixel-UV-Lichtquelle und ein erweitertes Ausrichtungsmodell umfasst, mit einem Encoder und einem Bühnencontroller, der von einem Bordcomputer geleitet wird. Die Daten werden mit einer CCD-Kamera mit 12-Bit-Auflösung, einer Bildaufnahmerate von unter einer Millisekunde und einem hochpräzisen Fokus erfasst. Die Ausrüstung umfasst eine Vielzahl von Funktionen, um die Genauigkeit zu gewährleisten, einschließlich automatischer Ausrichtung und Verfolgung, integrierter Vision-Sensoren, manueller und automatischer Schwelleneinstellungen, Bildaufnahmevorschau und erweiterter Mess-, Analyse- und Berichtsfunktionen. Der automatisierte Betrieb des Systems kann auch so programmiert werden, dass kundenspezifische Anwendungen wie Prozessoptimierung und Fehlerstandortbewertung ausgeführt werden. TENCOR UV 1050 ist für eine einfache Bedienung konzipiert, die minimale Rüst- und Bedienereingriffe erfordert. Mit seiner fortschrittlichen Optik, der integrierten UV-Beleuchtungsquelle und der intuitiven Benutzeroberfläche kann das Gerät subtile und herausfordernde Fehler schnell identifizieren und Anwendern genaue, zuverlässige Daten für die Prozesskontrolle und verbesserte Erträge liefern.