Gebraucht KLA / TENCOR Zeta 20 #293779066 zu verkaufen

KLA/TENCOR Zeta 20 ist eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung zur präzisen Qualitätsprüfung von Halbleiterscheiben. Es wird von einem patentierten berührungslosen optischen Rotationsmotor (NORM) -Technologie angetrieben und ist in der Lage, effiziente, Hochgeschwindigkeitsmessungen auf Waferoberflächen und Kanten durchzuführen. Das System kann Funktionsgrößen bis zu 0,2 µm erkennen, so dass der Benutzer die Waferbildung während der Herstellung steuern und überwachen und auf Kontamination testen kann. Das Gerät verwendet eine hocheffiziente und präzise optische Positioniervorrichtung, um den Wafer während der Inspektion zu drehen. Dies ermöglicht genaue Messungen der KEs Länge und Breite. Der Motor ist in der Lage, bis zu 400 Messreihen mehrmals auf zwei Seiten eines Wafers an einem beliebigen Punkt bereitzustellen. Es enthält auch eine verbesserte Leuchtdiode (LED) -Anordnung, um eine gleichmäßige Beleuchtung der Zieloberfläche für eine genaue Bildgebung bereitzustellen. Die Maschine umfasst auch eine präzise Filterstufe, die eine genaue Erkennung von Schlüsselparametern wie Waferform und Oberflächenrauhigkeit ermöglicht. Alle Ergebnisse können auf der benutzerfreundlichen grafischen Anzeige des Tools angezeigt werden. Die Anlage ist hochzuverlässig und kann wiederholbare Ergebnisse erzielen. Es ist auch für die Interaktion mit Standard-Messtechnik-Systemen konzipiert, die die Übertragung von Daten zwischen verschiedenen Instrumenten ermöglicht. Das Modell hat auch eine Reihe von automatisierten Funktionen, einschließlich Kontrastwechselerkennung und automatische Alarmeinstellung. Dies hilft, die Effizienz zu erhöhen und die Genauigkeit zu verbessern, indem der Benutzer automatisch benachrichtigt wird, wenn festgestellte Werte außerhalb des angegebenen Bereichs liegen. KLA Zeta 20 Ausrüstung ist ein leistungsfähiges und zuverlässiges Werkzeug für Halbleiter Wafer Inspektion und Messtechnik. Seine Genauigkeit und Automatisierungsfunktionen helfen, die Produktivität zu erhöhen und die Qualitätskontrolle von Halbleiterbauelementen zu verbessern.