Gebraucht KLA / TENCOR Zeta Scan 280 #9293267 zu verkaufen

KLA/TENCOR Zeta Scan 280 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung zur Überwachung der Herstellung von mikroelektronischen Bauelementen, einschließlich Halbleiterchips, Dünnschichten und Flachbildschirmen. Es handelt sich um ein hochauflösendes Abbildungssystem zur Messung von Parametern wie Oberflächentopographie, Filmdicke, Düsenhöhe und Beanspruchung eines Wafersubstrats. KLA Zeta Scan 280 ist eine optische Einheit, die auf einem hochmodernen konfokalen Mikroskop basiert und mit fortschrittlicher Kontrastempfindlichkeit und erweiterten Tiefenschärfefunktionen ausgestattet ist. Es verfügt über eine 5-Achsen-Bühnenmaschine für schnelles, präzises Wafer-Handling. Eine intuitive grafische Benutzeroberfläche ermöglicht es dem Benutzer, die Position des Wafers, die Bildaufnahme und die Einstellungen an einem bequemen Ort zu steuern. TENCOR ZETASCAN 280 verwendet eine Lichtquelle, Linsen und Filter, um Bilder eines Wafers zu erfassen, die dann digitalisiert werden. Die gescannten Bilder werden von Algorithmen analysiert, um Werte wie Oberflächenhöhe, Werkzeughöhe, Filmdicke, Spannung usw. zu extrahieren. Die Daten können bearbeitet werden, um eine tabellarische Anzeige der Ergebnisse in Form eines Berichts zu erzeugen. KLA ZETASCAN 280 unterstützt verschiedene Messtechniken, einschließlich Hellfeld, Dunkelfeld, sowie spektroskopische Bildgebung. Scanraten von bis zu 60 Bildern/Sekunde ermöglichen zerstörungsfreie, schnelle Messungen von Substratparametern. Zeta Scan 280 ist ein leistungsstarkes Wafer-Test- und Messtechnik-Tool, das erweiterte Bildgebungsfunktionen und Hochgeschwindigkeits-Datenerfassung zur Überwachung der Herstellung von hochkomplizierten Mikrogeräten bietet. Seine unglaublich präzise Bildgebungsfunktionen, intuitive Benutzeroberfläche und beispiellose Genauigkeit machen es zu einer idealen Wahl für Halbleiterhersteller.