Gebraucht KOBELCO / LEO LER #293642527 zu verkaufen

KOBELCO/LEO LER ist eine Hightech-Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung für Halbleiter. Das System wurde entwickelt, um Wafer während des Herstellungsprozesses des Wafers genau zu analysieren und zu inspizieren. Es verwendet modernste Technologie, um hochpräzise Messungen von Wafern anzubieten und die höchstmögliche Qualität zu gewährleisten. LEO LER verwendet eine Kombination verschiedener messtechnischer Messungen, wie chromatische Kontrolle, Interferometrie und Rasterelektronenmikroskopie. Die chromatische Kontrolle misst die Farbe einer Probe und ermöglicht die Identifizierung und Erkennung von Fehlern auf dem Wafer. Die Interferometrie verwendet einen rotierenden Spiegel, um Lichtwellen zu interferieren, so dass die Oberflächentopographie des Wafers analysiert werden kann. Inzwischen ist die Rasterelektronenmikroskopie eine bildgebende Technik, die Elektronen verwendet, um ein Bild der Zusammensetzung des Wafers zu bilden. Darüber hinaus ist die KOBELCO LER-Einheit in der Lage, eine 3D-Abbildung ganzer Waferoberflächen durchzuführen. Dies geschieht durch die Kombination aller messtechnischen Messungen und Daten aus den Scans. Die Maschine ist dann in der Lage, Fehler, Oberflächenanomalien und verschiedene Materialien auf einem Wafer zu erkennen. Es kann auch die Dicke und Orientierung von KEs wie Gattern und Abstandslinien messen. Darüber hinaus implementiert LER eine Reihe fortschrittlicher Funktionen, um eine hohe Genauigkeit und Zuverlässigkeit zu gewährleisten. Das Werkzeug nutzt beispielsweise eine automatische Fehlerinspektionsmöglichkeit, die es dem Bediener ermöglicht, den Prozess in Echtzeit zu überwachen. Darüber hinaus wird ein umfassender Wafer Identity Recognition Asset implementiert, um konsistente Ergebnisse und Genauigkeit zu gewährleisten. Insgesamt ist KOBELCO/LEO LER ein unglaublich fortschrittliches Modell, das eine umfassende und genaue Analyse von Halbleiterscheiben bietet. Mit seiner leistungsstarken Palette von messtechnischen Messungen und fortschrittlichen Funktionen bietet die Ausrüstung Anwendern ein zuverlässiges und genaues Mittel zur Prüfung und Inspektion von Wafern.