Gebraucht KOKUSAI VR-30A #293643665 zu verkaufen

KOKUSAI VR-30A ist eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die Halbleiterscheiben analysieren und verarbeiten kann. Es wird verwendet, um Wafer während ihres Produktionsprozesses auf Fehler zu messen und zu untersuchen. Das System ist mit einem Hochgeschwindigkeits-Düsen-Messgerät für Wafer verschiedener Größen sowie einem Düsen-Aligner für genauere Inspektion und anschließende Mikrodefektinspektion ausgestattet. VR-30A verfügt über einen hochauflösenden Farbbildsensor, der Defekte auf einem breiten Bereich von Wafergrößen von mm bis cm erkennen kann. Das Gerät ist auch mit einer zweidimensionalen Präzisionsstufe ausgestattet, die eine hochgenaue Ausrichtung bei minimalem Spiel ermöglicht. KOKUSAI VR-30A verwendet fortschrittliche Bildverarbeitungsalgorithmen, um Fehler in Wafern zu erkennen und zu analysieren. Die Maschine kann Kratzer, Späne, Leitungen und körnige Defekte erkennen. Außerdem kann es Bilder automatisch korrigieren und verbessern, während Fehler erkannt werden. Es kann auch Fehler an verschiedenen Teilen eines einzelnen Wafers in Echtzeit identifizieren. VR-30A Werkzeug verwendet automatisierte 3D-Messtechnik, um Wafer genau zu messen und kann auch Waferoberflächen messen. Die Anlage verwendet Dual-Strahl-Laser-Interferometrie, um Wafer Ebenheit und Tiefe genau und schnell zu messen. Es verfügt über eine Multikoordinaten-Messfähigkeit, die bis zu drei Wafer gleichzeitig messen kann. Darüber hinaus ist die Maschine auch mit einem patentierten Mehrstrahl-Profilfokus-Messmodell ausgestattet, das einen weiten Höhenbereich von der Oberfläche bis zur Rückseite des Wafers genau messen kann. KOKUSAI VR-30A Ausrüstung kann auch andere Parameter wie Oberflächenreflexion, Oberflächengleichmäßigkeit, Korngröße und Oberflächenablagerung messen. Darüber hinaus verwendet das Gerät automatisierte Kalibrierung und Verifizierung, um genaue Messergebnisse zu gewährleisten. VR-30A Wafer-Prüf- und Messsystem ist eine fortschrittliche und zuverlässige Einheit, die in vielen Wafer-Produktionsprozessen eingesetzt werden kann. Es wurde entwickelt, um Fehler schnell und genau zu erkennen und zu analysieren und gleichzeitig präzise messtechnische Messungen anzubieten. Diese Maschine ist sehr zuverlässig und effizient und sollte den Anwendern gute Ergebnisse liefern.