Gebraucht KOKUSAI VR-70 #9051391 zu verkaufen

KOKUSAI VR-70 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung für Inline-Wafer-Fertigungstests. Es ist mit einem fortschrittlichen Wafermesssystem ausgestattet, das präzise 2D- und 3D-Messungen von integrierten Schaltungen (ICs) ermöglicht. Das Gerät ermöglicht komplette Wafer-Inspektions- und Oberflächenmessungen bei hoher Geschwindigkeit und hoher Genauigkeit. Die Maschine eignet sich für Halbleiterfertigungslinien und Laboratorien mit hohem Durchsatz und Präzisionssteuerung. VR-70 beherbergt Wafer mit einem Durchmesser von bis zu 8 Zoll und verfügt über einen schnittlosen Laserscanner, der eine Genauigkeit der Submikron-Auflösung für 2D- und 3D-Messungen ermöglicht. Das Werkzeug ist in der Lage, sowohl Oberflächen- als auch interne Topologiedaten mit einem optischen Mikroskop zu erfassen und berührungslose elektrische Testinformationen (RTD) von Geräten auf der Waferoberfläche zu sammeln. Es ist auch mit einem hochauflösenden digitalen Mikroskop ausgestattet, das eine präzise Beobachtung und Analyse einzelner Geräte beim Scannen ermöglicht. KOKUSAI VR-70 umfasst eine Inline-Bildauswertung und -analyse-Anwendung zur schnellen und genauen Identifizierung von Fehlern oder Ertragskontrollpunkten auf Wafern verschiedener Typen. Das Asset verfügt auch über Die-to-Die-Scan-Funktionen, die automatisierte und konsistente Messungen von Zwischenstufen von Prozessschritten sowie Produktperformance ermöglichen. Damit können Hersteller den Prozess schnell und präzise einstellen und steuern. VR-70 bietet eine komplette Wafer-Charakterisierungslösung, einschließlich hoher Genauigkeit Dicke und Oberflächenrauhigkeitsmessungen, für die Produktion und Prozessentwicklung. Die fortschrittliche Datenerfassungsinfrastruktur ermöglicht die statische und dynamische Messung von Wafern und Geräten. Das Modell ist auch kompatibel mit vielen branchenüblichen Messtechnik- und Bildgebungssoftware, die eine effiziente Datenerfassung und -analyse ermöglicht. Schließlich bietet KOKUSAI VR-70 eine breite Palette von Visualisierungs- und Reporting-Tools für eine verbesserte Wafer-Fehleranalyse und Ertragskontrolle. Es ist mit Protokollierung und Fehlermeldung für proaktive Prozesssteuerung ausgestattet. Das Gerät unterstützt auch die automatische Datensicherung und -speicherung in einer externen Datenbank zur langfristigen Rückverfolgbarkeit und zur Gewährleistung der Datenintegrität.