Gebraucht KVM 4030C #293651246 zu verkaufen

KVM 4030C Wafer Testing and Metrology Equipment ist ein modernes Wafer-Prüf- und Messtechnik-System, ideal für Halbleiter- und Flachbildschirme. Dieses Gerät bietet zuverlässige, genaue und wiederholbare Daten über den gesamten Wafer-Testprozess vom Probentest bis zum Ende der Lebensdauer. 4030C ermöglicht sowohl Spannungs- als auch Stromabtastfunktionen. Dadurch können beide Parameter gleichzeitig getestet werden. Die Maschine bietet zudem eine Mehrfrequenz- und Mehrphasenkombination für eine genauere und zuverlässigere Datenerfassung. Dies ermöglicht ein umfassendes Test- und Messtechnikwerkzeug. KVM 4030C umfasst verschiedene Subsysteme, wie Sondenkammer, Messblock, Signalprozessoreinheit (SPU) und Scanelektronik. Die Sondenkammer ist mit einer automatisierten Be- und Entladung ausgestattet, die ein schnelleres Be- und Entladen von Wafern ermöglicht. Der Maßblock nimmt die Anordnungsstadien, Mehrfrequenz- und Phasenregelsysteme und eine Mehrkanalcomputerkontrollschnittstelle auf. Die Signalverarbeitereinheit ist ein Hochleistungsdigitaldatenerfassungsmodell, das das genaue und genaue Messen der Stromspannung und aktuellen Parameter ermöglicht. Die Scanning Electronics umfasst eine CCD-Kamera, eine digitale Signalverarbeitung und eine XY-Tabelle, die präzise und effiziente Wafer-Scanfunktionen ermöglicht. 4030C wurde für verbesserten Durchsatz und Genauigkeit entwickelt und ist in der Lage, eine breite Palette von Wafergrößen von 5 Zoll bis 12 Zoll zu testen. Seine Präzisionsstufen und Sondenbecher mit ausziehbaren Fingern ermöglichen einen einstellbaren Tastkopf und ermöglichen es Benutzern, randnahe Bereiche zu testen. Es bietet auch automatisierte Sondierung zwischen 40-100 Sonden. Das Gerät ist in der Lage, Wellenlängen von 240nm bis 850nm abzutasten, mit Mehrphasen- und Mehrfrequenzwerten bis zu 5 kHz. KVM 4030C bietet Benutzerfreundlichkeit und ist kompatibel mit einer Vielzahl von Softwareprogrammen und Steuersprachen, wie C++, C #, WinForms, Agilent BenchLink Pro und Measurement Studio, um eine einfachere Programmierung, Tests und Datenerfassung zu ermöglichen. Zusammenfassend ist 4030C Wafer Testing and Metrology System eine umfassende, einfach zu bedienende Einheit, ideal für Halbleiter- und Flachbildschirme. Es bietet hochpräzise, zuverlässige Daten über eine breite Palette von Wafergrößen und ist mit einer Vielzahl von Softwareprogrammen und Steuerungssprachen kompatibel.