Gebraucht LEHIGHTON 1510C-RP #293608868 zu verkaufen

LEHIGHTON 1510C-RP Wafer-Prüf- und Messtechnik ist ein hochpräzises Messtechnikwerkzeug, das für den Einsatz in der Halbleiterwaferbearbeitung und -inspektion entwickelt wurde. Mit diesem System können Hersteller und Tester verschiedene Eigenschaften von Wafern analysieren und messen sowie Verschmutzungen und Defekte erkennen. 1510C-RP ist eine vollautomatische eigenständige Einheit, die die physikalischen Eigenschaften, elektrischen Eigenschaften und optischen Eigenschaften aller Arten von Halbleiterscheiben bis zu einem Durchmesser von 12 ″ (300 mm) genau überprüfen und analysieren kann. Es kombiniert eine Reihe spezialisierter Sensoren und optischer Mikroskope sowie eine Datenerfassungsmaschine, um eine Vielzahl von Eigenschaften eines Wafers schnell und genau zu messen, ohne dass ein Eingriff des Bedieners erforderlich ist. LEHIGHTON 1510C-RP unterstützt eine Reihe von Wafersonden und Substratmaterialien, wie Siliziumoxid, Siliziumnitrid, Siliziumcarbid, sauerstoffdotiertes Polysilizium und Schwermetallsiliziumoxid. Darüber hinaus kann das Werkzeug konfiguriert werden, um eine Reihe von Defekten und Verunreinigungen wie Partikel, Rückstände, Verunreinigungen, Defekte und mehr zu erkennen. Dies sorgt für qualitativ hochwertige Ergebnisse und sorgt für eine sichere Weiterverarbeitung der Wafer. 1510C-RP unterstützt auch eine umfassende Palette von Testmodi, einschließlich zerstörungsfreier und destruktiver Tests und einer Vielzahl von Fehleranalysetechniken. LEHIGHTON 1510C-RP umfasst zwei unabhängige und austauschbare Plattformen, eine zur Inspektion und eine zur Charakterisierung. Die Prüfplattform führt grundlegende und kritische Prüfaufgaben wie Fokushöhen- und kritische Maßmessungen durch, während die Charakterisierungsplattform spezialisierte Tests wie Kapazitätsmessungen und Trägermobilitätstests durchführt. Auf diese Weise können Anwender das Asset konfigurieren und flexibel an die jeweiligen Anforderungen ihrer Anwendung anpassen. Darüber hinaus bietet 1510C-RP eine Vielzahl von Funktionen zur Vereinfachung des Test- und Messtechnik-Prozesses, wie automatisierte Wafer-Handhabung, Kontinuitätsprüfungen, automatisierte Datenerfassung und Fernzugriffssteuerung. Dies hilft, die Testzeit insgesamt zu reduzieren und die Genauigkeit zu erhöhen. LEHIGHTON 1510C-RP ist die perfekte Lösung für Hersteller, Tester und Forscher, die nach einem zuverlässigen, leistungsstarken Wafer-Prüf- und Messtechnik-Modell suchen. Sein breites Spektrum an Funktionen und Multifunktionsmöglichkeiten bieten eine ideale Plattform sowohl für grundlegende Waferinspektionen als auch für komplexe Analyseaufgaben. Darüber hinaus ist es aufgrund seiner Wirtschaftlichkeit und einfachen Bedienung eine attraktive Wahl für Labore und Produktionsstätten gleichermaßen.