Gebraucht LEHIGHTON 1510C #9101496 zu verkaufen

LEHIGHTON 1510C Wafer Testing and Metrology Equipment ist ein produktionsfähiges Wafer-Testsystem, das zur Erkennung, Analyse und Messung von Oberflächenfehlern auf Halbleiterscheiben verwendet wird. Dieses Gerät verwendet Hochgeschwindigkeits-Laser-basierte Inspektionstechnologie, um genaue und wiederholbare Messungen zu liefern. Die fortschrittliche Laseroptik von 1510C bietet eine überlegene Bildgebungsleistung und eine maximale Oberflächendefektauflösung von 250 nm. Darüber hinaus bietet die Digitalkamera-Fähigkeit der Maschine die Möglichkeit, klare Bilder von Fehlern mit 100.000 Pixeln Auflösung aufzunehmen. Dieses Werkzeug hat einen hochmodularen Aufbau mit vielen Funktionen, die es zu einer attraktiven Wahl für Testanwendungen auf Produktionsebene machen. Seine Hauptkomponenten bestehen aus einem Laserkopf, zwei Objektiven, einem Fokussierarm, einem optischen Manipulator und einer motorisierten Waferstufe. Diese Komponenten sind so konzipiert, dass sie zusammenarbeiten, um Unvollkommenheiten auf der Waferoberfläche zu erkennen und zu analysieren. LEHIGHTON 1510C kommt auch mit einer Vielzahl von Messtechnik-Software-Tools. Mit diesen Tools können Benutzer ihre bildgebenden Systeme kalibrieren und erkannte Fehler genau messen. Diese Anlage unterstützt verschiedene Messmethoden, darunter die optische Profilometrie, die eine wichtige Fähigkeit für Prozesskontrollanwendungen auf Produktionsebene darstellt. 1510C Modell bietet auch eine ganze Reihe von automatisierten Wafer-Testfunktionen. Dazu gehören ein Autofokus-Gerät, ein automatisiertes Erkennungssystem und erweiterte Fehlerklassifizierungsfunktionen. Diese Merkmale erleichtern die Erkennung und Analyse von Defektmustern, wodurch die Effizienz des Testprozesses weiter verbessert wird. Insgesamt bietet LEHIGHTON 1510C Wafer Testing and Metrology Unit eine zuverlässige Plattform für Wafertests auf Produktionsebene. Seine vielseitigen Komponenten, automatisierten Funktionen und Messtechnik-Software-Tools helfen dabei, den Wafer-Testprozess zu optimieren, was ihn zu einer attraktiven Option für jede Organisation macht, die nach einer hocheffizienten Fehlererkennungslösung sucht.