Gebraucht LEHIGHTON 1510E-RP #9288297 zu verkaufen

LEHIGHTON 1510E-RP ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die für fortschrittliche und genaue Messungen von Dünnschichtstrukturen entwickelt wurde. Es hat einen modularen Ansatz, der eine Vielzahl von elektrischen, optischen und akustischen Messungen unterstützt, sowie Ultrahochvakuum (UHV) kompatible Verarbeitungsfähigkeit. Es verfügt über eine Prober-basierte Plattform auf einer 3-Achsen-X-Y-Z-Bühne für eine präzise und genaue Positionierung. Der Prober arbeitet in Verbindung mit einem fortschrittlichen Messtechnik-Würfel und bietet Zugang zu einer Vielzahl von Messungen und Parametern. Der fortschrittliche Messtechnik-Würfel kombiniert ein laborartiges Atomkraftmikroskop (AFM) mit einem Rasterelektronenmikroskop (SEM) und einem Ellipsometer. Diese Kombination ermöglicht quantitative Messungen verschiedener Dünnschichtstrukturen, einschließlich Abscheidungsdichte und Oberflächendeckung. Während SEM und AFM wertvolle Einblicke in die Struktur des Dünnfilms geben, ermöglicht das Ellipsometer dem Anwender, die Dünnschichtdicke genauer zu messen. Darüber hinaus ist dieses System mit einem STM-Spitzenofen ausgestattet, der eine UHV-kompatible Entnahme von Proben ermöglicht. 1510E-RP Einheit kann Daten erfassen, kalibrieren und analysieren, um eine umfassende Analyse von Dünnschichtstrukturen zu ermöglichen. Die Maschine ist mit einer Vielzahl von Software-Tools zur Datenverarbeitung und -analyse für eine breite Palette von Substraten ausgestattet. Es kann mit einer Vielzahl von Software-Utilities für eine schnelle und effiziente Verarbeitung integriert werden, um schnelle Einblicke und Ergebnisse für eine Vielzahl von Dünnfilm-Experimenten zu liefern. LEHIGHTON 1510E-RP Wafer-Test und Messtechnik-Tool verfügt über eine benutzerfreundliche Oberfläche, mit intuitiven Menüs und grafischen Displays. Mit seinen automatisierten Funktionen ist es einfach einzurichten und zu bedienen, so dass dieses Gut sowohl für Anfänger als auch für Experten geeignet ist. Darüber hinaus kann es remote über eine Ethernet-Verbindung betrieben werden, was es zu einem vielseitigen Werkzeug für Forscher und kommerzielle Benutzer gleichermaßen macht. Insgesamt ist 1510E-RP Wafertest- und Metrologiemodell eine benutzerfreundliche, modulare und vielseitige Plattform zur Analyse von Dünnschichtstrukturen. Mit seiner komplexen Kombination aus Hard- und Software bietet es eine umfassende Analyse einer Vielzahl von dünnschichtbezogenen Experimenten. Es eignet sich sowohl für Experten als auch für Anfänger und kann problemlos mit einer Vielzahl von Software und Fernbedienungstools integriert werden.