Gebraucht LEHIGHTON 1610 #293606944 zu verkaufen

LEHIGHTON 1610
ID: 293606944
Non-contact measurement system.
LEHIGHTON 1610 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik zur Messung von Wafereigenschaften. Es ist für Hunderte von verschiedenen geometrischen Eigenschaften und Inspektionsparametern ausgelegt. Das System von Leybold ist hocheffizient und kostengünstig und somit ideal für Forschungs- und Produktionsanwendungen. Der LTE 1610 ist mit einer modularen Einheit ausgestattet, die eine flexible Konfiguration ermöglicht, die den Bedürfnissen des Kunden entspricht. Die Maschine ist hochgenau und wiederholbar und liefert Ergebnisse mit zwei Dezimalstellen der Präzision. Es umfasst Komponenten wie Strahlphasen, Verstärker, Optikköpfe, Drehstufen, Motoren und Regler. Das Gerät wurde entwickelt, um zahlreiche Eigenschaften von Halbleiterscheiben wie Oberflächenkonturen, axiale Bereiche und weitere Abmessungen auszuwerten. Es ist auch in der Lage, eine Vielzahl von Materialeigenschaften zu messen, einschließlich dielektrischer Konstanten, Spannungsfelder und Brechungsindex. Das Gerät verwendet einen Lichtstrahlgenerator und einen nanometerskalierten Detektor für präzise und genaue Messungen. LEHIGHTON 1610 Werkzeug verfügt auch über eine interaktive GUI mit 3D-Prozessansicht, so dass Benutzer den gesamten Prozess auf einen Blick sehen, einfach zu bedienende Flussdiagramme erstellen und den Prozess steuern können. Es verfügt auch über unbegrenzten Speicher, automatische Ergebnisspeicherung, fehlerhafte Bildaufnahme und einen externen hochauflösenden Encoder mit optionaler Softwareerweiterung. Die experimentelle Software und der Algorithmus von 1610 sind auf hohe Präzision und Geschwindigkeit ausgelegt. Erweiterte Messfunktionen umfassen „Multi-Device und Multi-Data-Channel-Synchronisation“ und „Data-Channel-Pixel-Skala“. Darüber hinaus unterstützt das Asset die Einzelbildverarbeitung, die nahtlose Integration mit mehreren PL/TW-Systemen und die FIB/SEM-Steuerung. Zusammenfassend ist LEHIGHTON 1610 ein leistungsfähiges und zuverlässiges Wafer-Test- und Metrologiemodell mit leistungsstarken Fähigkeiten. Es ist ein modulares Gerät, mit einer interaktiven GUI, erweiterte experimentelle Software und Algorithmus, Multi-Geräte-Synchronisation, und weitere Funktionen. Es ist eine gute Wahl für Produktions- und Forschungsanwendungen und liefert schnelle und genaue Ergebnisse.
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