Gebraucht LEICA LTD 800 #9278377 zu verkaufen

LEICA LTD 800 ist eine hochmoderne Wafer-Prüf- und Messtechnik für Halbleiterproduktionsanlagen. Es bietet eine effiziente und genaue Lösung für die Erkennung und Messung von Defekten in einer Vielzahl von Substraten, einschließlich Silizium, Quarz, Aluminium und Keramik. Das System besteht aus einem hochauflösenden optischen Mikroskop, einem Abtastkopf und spezialisierter Software für die Bildanalyse. Das Mikroskop ist mit einer hochauflösenden Digitalkamera zur Bildgebung und Abtastung von Wafern ausgestattet. Der Probenahmekopf enthält einen 90-Grad-Dreh- und Neigungsmechanismus, der es ermöglicht, Mehrwinkelbilder von Waferoberflächen zur genauen Fehlererkennung genau zu erfassen. Das Mikroskop umfasst außerdem bis zu vier Einzelobjekte zur Durchführung von Analysen bei unterschiedlichen Vergrößerungen, wodurch sowohl große als auch kleine Defekte gemessen werden können. Die von LTD 800 verwendete Software bietet eine Reihe von Funktionen, die eine präzise Fehlererkennung und -messung ermöglichen. Das Gerät bietet eine Vielzahl von Algorithmen zur Bildverbesserung, um den Kontrast zu verbessern und eine bessere Fehlerdefinition zu ermöglichen. Darüber hinaus bietet es einen automatisierten Fehlererkennungsmodus, der es ermöglicht, Fehler anhand voreingestellter Kriterien automatisch zu erkennen und zu messen. Die Maschine kommt auch mit einem speziellen Scanmodus für die Überprüfung von Wafern mit gleichmäßiger Strukturierung oder dünnen Filmen. Dieser Modus enthält Algorithmen zur Erkennung und Messung verschiedener Arten von Fehlern basierend auf der Bildanalyse. Das Tool bietet auch 3D-Visualisierungen des Wafers und der Defekte, die eine verbesserte Genauigkeit und einfachere Fehlerlokalisierung gewährleisten. Schließlich bietet LEICA LTD 800 auch eine Reihe von Berichts- und Archivierungsfunktionen, mit denen Benutzer die Ergebnisse von Inspektionen speichern und problemlos abrufen können. Das Asset ist auch erweiterbar, mit Kompatibilität mit anderen Systemen und Unterstützung für zusätzliches Zubehör. Diese Funktionen bieten Anwendern eine umfassende Lösung für die Fehlererkennung und Messtechnik in Halbleiterfertigungslinien.