Gebraucht LEITZ (Wafer-Prüfung und Messtechnik) zu verkaufen

LEITZ ist ein führender Hersteller von Wafer-Prüf- und Messtechnik-Geräten, die in der Halbleiterindustrie weit verbreitet sind. Ihre Produktpalette umfasst Analoga, wie ihre Advanced Spectroscopic Ellipsometers (ASE), die präzise Messmöglichkeiten für die Dünnschichtcharakterisierung bieten. Diese Systeme bieten Vorteile wie schnelle, zerstörungsfreie Prüfung und genaue Charakterisierung von Filmdicken, Brechungsindizes und Oberflächenrauhigkeiten. Ein beliebtes Wafer-Testsystem von LEITZ ist das LIS (Leitz Integrated System), das mehrere Messtechniken kombiniert, darunter spektroskopische Ellipsometrie, Reflektometrie und Streuung. Das LIS-System ermöglicht eine umfassende Wafer-Inspektion und Charakterisierung und gewährleistet eine hohe Qualität und Zuverlässigkeit von Halbleiterbauelementen. Für messtechnische Zwecke bietet LEITZ das MPV-SP (Multiple Purpose Spectral Reflectometer) an. Dieses System bietet schnelle und genaue Messfähigkeiten für Filmdicke, Brechungsindex und kritische Abmessungen. Der MPV-SP wird üblicherweise zur Prozesssteuerung und -optimierung in der Halbleiterfertigung eingesetzt. LEITZ bietet auch die SP-Serie (Spectroscopic Ellipsometer) an, die hochpräzise Messmöglichkeiten für Filmdicken und optische Konstanten bietet. Diese Einheiten sind auf die hohen Anforderungen verschiedener Wafer-Fertigungsprozesse ausgelegt. Insgesamt sind LEITZ Wafer-Prüf- und Messtechnik-Maschinen für ihre fortschrittliche Technologie, präzise Messungen und zuverlässige Leistung bekannt, die Halbleiterherstellern helfen, ihre Ausbeute zu verbessern, die Prozesskontrolle zu verbessern und die ständig steigenden Qualitätsstandards der Branche zu erfüllen.

3 Ergebnisse gefunden
Filter
Alle löschen
Filter
3 Ergebnisse
Wafergröße
  • (1)
  • (2)
Weinlese
  • (1)
  • (1)
Finden Sie nicht, was Sie suchen?